Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #293643959 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 30 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie et l'analyse d'un large éventail de matériaux et de structures. Ce microscope polyvalent est bien adapté à l'imagerie à faible et à haut grossissement, et peut être utilisé dans les applications de microscopie électronique à balayage in situ et environnemental. Le FEI XL 30 intègre la technologie des canons à émission de champ (FEG) pour une performance et une stabilité maximales. Cette source FEG permet des courants de faisceau d'électrons jusqu'à 2pA, permettant l'imagerie en mode électronique à balayage basse tension. La source FEG à fort courant permet également d'augmenter la vitesse de balayage et la résolution d'image à des grossissements plus élevés. PHILIPS XL30 dispose également d'une grande capacité de chambre pouvant accueillir jusqu'à 450 mm d'échantillons et d'une large gamme d'orientations d'échantillons. Cela permet d'utiliser le microscope pour analyser même les échantillons les plus difficiles. En outre, XL30 comprend un système de chargement d'échantillons Autoload III unique et une gamme de détecteurs d'imagerie, y compris un détecteur de scintillateur pour l'imagerie optimisée d'échantillons très contrastés et un détecteur de rétrodiffusion pour l'imagerie de matériaux non conducteurs. XL 30 peut également être utilisé en mode SEM environnemental (ESEM) pour l'imagerie et l'analyse d'échantillons qui ne peuvent pas être imagés avec SEM classique. En fonctionnement en mode ESEM, PHILIPS XL 30 maintient un environnement vide propre et stable tout en permettant le maintien de l'échantillon sous atmosphère gazeuse. Cela permet l'imagerie d'échantillons biologiques délicats tels que des spécimens dans des liquides et des cultures cellulaires. Enfin, PHILIPS/FEI XL30 est équipé d'une gamme de logiciels d'analyse haute performance, tels que TelED, un ensemble automatisé d'analyse d'image conçu pour l'analyse d'image et la visualisation 3D interactive. Ce logiciel est capable de mesurer des caractéristiques telles que la zone, le périmètre, le profil de ligne et le volume, ainsi que les capacités intégrées de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS). En conclusion, FEI XL30 est un microscope électronique à balayage conçu pour l'imagerie et l'analyse d'un large éventail de matériaux et de structures. La conception polyvalente, la source FEG et la gamme de détecteurs et de logiciels d'analyse font de PHILIPS/FEI XL 30 un outil idéal pour une gamme d'applications SEM et ESEM.