Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #293644231 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 30 est un microscope électronique avancé équipé d'un canon à émission de champ pour la microscopie électronique à balayage (SEM). Le microscope est conçu avec une tension d'accélération maximale pouvant atteindre 30 kV et une profondeur de focalisation et de résolution toujours plus grande pour permettre un examen plus détaillé et précis des échantillons. Il fonctionne en trois modes, dont SEM, low-kV STEM et high-kV STEM. Les capacités de microanalyse des rayons X de FEI XL 30 permettent la cartographie élémentaire basée sur SEM et le revêtement. Avec l'appui d'un bouton, le système de focalisation automatique du microscope effectue une focalisation rapide et précise de l'échantillon avec un minimum de bruit. PHILIPS XL30 est équipé d'un manipulateur à haute température, permettant de placer des échantillons à des pressions allant jusqu'à 50 torr et des températures allant jusqu'à 2000 ° C Le manipulateur aide à réduire la dérive de l'échantillon et le rend plus résistant au contact avec la sonde de balayage. De plus, il améliore considérablement la qualité d'imagerie des échantillons inhomogènes. La grande chambre de l'instrument permet la fixation d'une variété de détecteurs, tels que LENS (système de focalisation électronique latérale), pour des expériences 3D qui impliquent une combinaison d'imagerie basse et haute résolution. De plus, la chambre est équipée de porte-échantillons pour la morphologie et l'imagerie de phase, ainsi que de l'étage d'échantillonnage pour assurer la spectroscopie et l'imagerie dans divers modes d'irradiation, y compris le vide sous vide, le vide sous vide et l'ultra-haut vide. FEI XL30 fournit des environnements stériles et isolés pour maximiser la clarté du signal et la précision de l'image. Son système optique de pointe offre également une sensibilité et un rapport signal sur bruit améliorés. En outre, le microscope est conçu avec une interface utilisateur ergonomique qui facilite le fonctionnement intuitif. La combinaison de ses caractéristiques avancées, telles qu'une tension maximale d'accélération de 30 kV, un manipulateur à haute température et une grande chambre, font de XL30 un outil idéal pour effectuer une large gamme de tâches de microscopie. Son interface utilisateur facile à utiliser, sa qualité d'imagerie fiable et sa haute résolution ne sont que quelques-uns de ses avantages. De plus, ses différents détecteurs et porte-échantillons permettent une imagerie haute résolution, une spectroscopie et une analyse 3D qui ne seraient pas possibles autrement.