Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #293757338 à vendre en France
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ID: 293757338
Scanning Electron Microscope (SEM)
Resolution: 3.5 nm @30 kV or >25 nm @1 kV
Voltage: 0.2 – 30 kV
Detectors:
SE
Back-scatter detector
Specimen chamber CCD camera
Stage:
X, Y Travel: 25 mm x 32 mm
Rotation: 360°
Tilt: -15° to 75°
Compucentric rotation
Working distance: 10 mm
Vacuum system:
EDWARDS TMP
EDWARDS Pre-vacuum rotary pump.
PHILIPS/FEI XL 30 Scanning Electron Microscope est un outil très avancé pour l'analyse des composants et matériaux électroniques. Le microscope est équipé d'imagerie numérique et d'électrons secondaires, et il peut être utilisé sur une gamme de tailles d'échantillons, y compris les matériaux métalliques et céramiques. Le microscope est construit autour d'une longue base et d'une colonne verticale, et il peut être mis en place avec cinq objectifs différents, donnant une résolution plus élevée et des capacités de grossissement plus élevées. Il est équipé à la fois d'un appareil photo numérique intégré et d'un détecteur d'électrons secondaire, ce qui augmente la résolution des images à un niveau bien supérieur à ce qui est réalisable par les microscopes optiques. Ces capacités, combinées à une large gamme d'accessoires et d'applications, font de FEI XL 30 un outil idéal pour une gamme de tâches d'analyse avancées. Le microscope est un outil très avancé pour la caractérisation des semi-conducteurs, l'inspection et l'analyse des défaillances, l'analyse des cartes de circuits et la caractérisation des matériaux. Il est extrêmement puissant et offre des images haute résolution de micro-structures, caractéristiques et composition interne. En outre, le microscope est équipé d'une large gamme d'accessoires, y compris un ensemble de canons, des pompes à gaz et des systèmes à vide complet, une unité de cryo-transfert, et une gamme de porte-échantillons. Ces accessoires font de PHILIPS XL30 un outil idéal pour diverses tâches d'analyse et de test avancées, telles que l'imagerie numérique, l'analyse chimique, la mesure de l'épaisseur du film et la caractérisation des défauts. XL30 a été conçu en gardant à l'esprit la performance et la facilité de fonctionnement. Il permet des mesures et des analyses rapides et précises, et son interface conviviale facilite la mise en place, l'exploitation et l'interprétation des données. Le microscope est également extrêmement facile à entretenir et à mettre à niveau, assurant ainsi un fonctionnement fiable à long terme. Dans l'ensemble, le microscope électronique à balayage XL 30 est un excellent outil d'analyse des composants et matériaux électroniques. Il est rempli de fonctionnalités de pointe, et son imagerie, son analyse et ses accessoires de pointe permettent une gamme de tâches avancées. Le microscope est également facile à configurer et à utiliser, ce qui en fait un outil idéal pour un éventail d'utilisateurs.
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