Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #293764144 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage PHILIPS/FEI XL 30 (SEM) est un outil avancé pour l'imagerie de divers processus de surface jusqu'au niveau du nanomètre. Il fournit des images de résolution supérieure des échantillons qui ont été nettoyés, recouverts de pulvérisateurs ou traités pour les rendre visibles. Une caractéristique importante de cet outil est qu'il est conçu pour être utilisé dans des environnements industriels et de recherche, offrant une flexibilité pour diverses applications d'imagerie. L'instrument peut atteindre une résolution de sous-nanomètre à une profondeur de champ plus élevée. Il est équipé d'un détecteur d'électrons secondaire haute performance qui permet une imagerie claire des caractéristiques de surface. La capacité EDX permet une analyse élémentaire des rayons X à spectre complet avec le détecteur EUROSTEM II en option. L'utilisation de ce détecteur permet également de caractériser avec précision des matériaux tels que la composition élémentaire, la cristallinité et les paramètres de réseau. La fonctionnalité du FEI XL 30 est encore améliorée par le mode balayage rapide et les bobines déflecteurs rapides. Cela permet un balayage à grande vitesse de zones aussi grandes que 10cm x 10cm en moins de 8 secondes. De plus, l'instrument peut réduire les temps de balayage lorsque l'imagerie simultanée de plusieurs zones est nécessaire. Une des capacités les plus puissantes de PHILIPS XL30 SEM est la capacité de collecter des données dans une grande zone en peu de temps. Les dispositifs mécaniques raffinés permettent un mouvement précis des échantillons et des étages, ainsi qu'une imagerie à grande vitesse avec un large champ de vision. La gamme des tailles d'échantillons pouvant être prises en compte par le microscope est encore étendue par la grande distance de travail. XL30 SEM joue également un rôle important dans l'analyse avancée des matériaux. Il est équipé d'un détecteur EDS qui permet une analyse élémentaire au bord des fonctionnalités, fournissant des résultats très précis avec un excellent rapport signal/bruit. De plus, l'instrument est livré avec de nombreux outils automatisés, tels que la détection automatisée des bords et le comptage des fonctionnalités, pour fournir une collecte et une analyse de données efficaces et précises. En résumé, PHILIPS XL 30 SEM est un outil très avancé pour l'imagerie et l'analyse des processus de surface jusqu'au niveau du nanomètre. Son large éventail de capacités, y compris l'imagerie haute résolution, l'analyse élémentaire, la cartographie rapide et les fonctionnalités automatisées, en font un choix idéal pour la recherche et les applications industrielles.