Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #293771293 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 30 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie haute résolution et l'analyse de surfaces et d'interfaces dans une grande variété de matériaux allant des nanoparticules aux grandes structures. Ce SEM est capable d'imagerie à haut débit, entraînant des images détaillées jusqu'à 2nm de résolution. FEI XL 30 intègre un équipement de mise au point automatique et l'alignement des faisceaux pour une imagerie de haute qualité. Ce SEM utilise une lentille basse tension d'accélération pour augmenter la sécurité de l'utilisateur et un faisceau d'électrons pour l'imagerie dans l'environnement à vide élevé. Le détecteur d'électrons secondaire dans la colonne produit un excellent contraste et des détails d'image. PHILIPS XL30 dispose d'un système automatisé multi-étages qui fournit des capacités d'analyse et de manipulation d'échantillons à haut débit. En manipulant le faisceau et l'étape d'échantillonnage, diverses données peuvent être recueillies en une seule fois, y compris des caractéristiques quantitatives de cartographie élémentaire et de morphologie. Il dispose également d'un spectromètre à rayons X dispersifs d'énergie (EDX) qui utilise les électrons rétrodiffusés pour générer un spectre de structures cristallines et un détecteur de diffraction de rétrodiffusion d'électrons (EBSD) dédié pour mesurer les intensités de crête. PHILIPS/FEI XL30 est capable d'imager dans une variété de modes, tels que le champ lumineux, le champ sombre et le contraste différentiel. Ce SEM est équipé d'une unité de surpression unique pour la ventilation des échantillons et pour empêcher les contaminants de pénétrer dans l'environnement à vide élevé. Il comprend également une machine de navigation avancée pour sélectionner et manipuler des images. L'échantillon est placé dans une chambre à vide et l'environnement de l'échantillon est manipulé pour créer les conditions d'imagerie souhaitées. FEI XL30 intègre également un outil de capture d'image pour la commande directe et à distance du SEM. L'image capture les dossiers d'actifs et traite chaque image du SEM, ce qui permet d'examiner, d'archiver et de partager facilement les résultats. Dans l'ensemble, XL 30 est un puissant microscope électronique à balayage pour l'imagerie détaillée et l'analyse des matériaux, permettant aux utilisateurs de mieux comprendre leurs échantillons. Avec ses fonctionnalités intégrées, telles que son modèle automatisé multi-étapes et son équipement de navigation avancé, ce SEM offre une solution d'analyse efficace et rentable.