Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #293799305 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 30 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie d'échantillons lumineux et des applications analytiques. Il est particulièrement adapté à l'imagerie et à l'analyse de la topographie de surface, de la composition des échantillons et des structures de surface du papier. FEI XL 30 est un SEM à pression variable avec une distance de travail minimale de 30 mm et une distance de travail maximale de 200 mm. Il dispose d'une résolution de 1.2nm à 3 keV avec un processeur de signal numérique (DSP) et un minimum d'électrons par pixel de 8. PHILIPS XL30 SEM est basé sur la plateforme de la série FEI XL et intègre plusieurs avancées significatives. Il dispose d'un mode de couture automatisé intelligent amélioré qui permet un champ de vision contigu, répétable et une profondeur motorisée de réglage de champ. XL 30 dispose également d'un logiciel convivial de pointe qui comprend l'imagerie 2D double, les reconstructions tomographiques 3D, la cartographie spectrale et l'analyse des rayons X dispersifs d'énergie pour l'analyse élémentaire quantitative. PHILIPS XL 30 est équipé d'un appareil photo CCD LMIS1 avec une résolution de 4 mégapixels qui produit des images de haute qualité. Le SEM est capable de produire des images de 50nm à 25mm, selon l'application que vous utilisez. Le module d'environnement d'échantillons fournit une gamme de supports personnalisables, y compris des supports SEM et des étages d'échantillons automatisables. Parmi les autres caractéristiques notables, mentionnons une interface graphique conviviale (interface graphique) avec conception à quatre variables pour l'imagerie multifaisceaux, l'alignement automatisé des images, l'inclinaison variable des échantillons et le balayage des étages, la profondeur variable du champ et la distance de travail variable. La SEM à pression variable fournit des faisceaux d'électrons stables à basse pression, permettant un rebond minimal du faisceau d'électrons et une meilleure imagerie des échantillons non conducteurs. XL30 SEM est un instrument puissant et convivial qui fournit des données rapides et fiables. Ses caractéristiques avancées le rendent adapté à de nombreuses analyses et applications d'imagerie, y compris la cartographie d'échantillons, la topographie de surface, l'analyse granulométrique/forme, la composition et la structure de l'échantillon, le profilage de profondeur et l'analyse élémentaire. PHILIPS/FEI XL30 SEM offre la flexibilité et les performances nécessaires pour la plupart des applications en laboratoire, donnant aux utilisateurs la polyvalence et la confiance nécessaires pour mener des recherches fiables.