Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #293809599 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage PHILIPS/FEI XL 30 (SEM) est un instrument scientifique de pointe utilisé pour obtenir des images des surfaces d'objets solides au niveau microscopique. Ce microscope a une capacité unique d'obtenir des images avec plus de profondeur, de taille et de détail que les autres microscopes. FEI XL 30 est un microscope électronique à balayage à transmission entièrement intégré, et une pièce de technologie très sophistiquée. C'est un outil particulièrement puissant pour l'étude des nanostructures et des caractéristiques transversales au microscale. Il combine divers systèmes de détection comme l'imagerie électronique secondaire (SE), l'imagerie électronique par signal (BE) et l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB). Cela permet aux chercheurs de mesurer l'architecture 3D à l'intérieur d'un spécimen, de comprendre les caractéristiques internes et de distinguer les détails fins de la surface. De plus, la « technologie BackScatter » de ce microscope permet l'imagerie de très grandes structures avec une résolution 3D améliorée. PHILIPS XL30 SEM est équipé d'un système « Smartbeam™ » unique, qui comprend un processeur d'image numérique et un système de contrôle pour augmenter la précision et le contraste de l'image. Ceci se fait par réglage automatisé du courant et du potentiel du faisceau d'électrons. Le système comprend également une routine d'étape automatisée qui permet de multiples positions tournantes de l'échantillon et augmente encore la profondeur de champ. En outre, le collecteur-limiteur automatique offre un contraste amélioré et des effets de charge réduits. La chambre à spécimen de PHILIPS/FEI XL30 SEM a été conçue pour fournir un environnement à très faible dépression. Cela évite les dommages aux spécimens et améliore la qualité de l'image. De plus, le microscope est équipé d'une source d'électrons multi-filaments, fournissant une faible énergie électronique et une faible tension accélérée. Cela réduit les dommages aux échantillons du faisceau d'électrons. PHILIPS XL 30 SEM est l'outil idéal pour la recherche scientifique et l'industrie. Il offre une haute résolution, une qualité d'image signal-à-bruit supérieure, et une large gamme de capacités d'imagerie. La facilité de fonctionnement et l'excellente fiabilité se combinent pour faire de XL30 SEM le choix parfait pour diverses applications, telles que la recherche en nanomatériaux, le micro-usinage, l'analyse des défaillances et les essais non destructifs.