Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #293831005 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 30 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) idéal pour une utilisation dans la recherche industrielle, universitaire et gouvernementale. FEI XL 30 dispose de puissantes capacités d'imagerie qui permettent à l'utilisateur de visualiser une gamme de matériaux et de structures en détail. Le microscope est équipé d'un détecteur rétrodiffusé refroidi à haute résolution et d'un détecteur Everhart-Thornley, qui améliorent le contraste et la résolution. Le microscope utilise la dernière technologie FEG (Field Emission Gun), permettant d'augmenter la résolution, la stabilité et la qualité d'image, même à des grossissements élevés. Cette technologie est encore améliorée par une combinaison d'électrons secondaires optimisés et de technologie à vide faible, qui permet une imagerie supérieure du matériau et des structures atomiques et magnétiques. PHILIPS XL30 offre également une large gamme de capacités d'imagerie numérique, telles que le traitement d'image numérique et AutoMontage. FEI XL30 dispose également d'un système d'automatisation avancé qui permet un fonctionnement facile et cohérent sur la durée de vie du microscope. Ce système d'automatisation peut détecter et gérer une gamme de paramètres tels que le mouvement de l'échantillon, la pression, l'inclinaison, la taille du balayage et la résolution de l'image. PHILIPS XL 30 dispose également d'un contrôle d'étage automatisé et d'un système de séquence de tâches intégré qui permet à l'utilisateur d'effectuer une gamme de tâches rapidement et efficacement. XL30 est conçu pour la recherche industrielle, universitaire et gouvernementale, avec des caractéristiques avancées et des capacités d'imagerie supérieures. Sa résolution d'imagerie supérieure, la technologie FEG et les systèmes automatisés font de PHILIPS/FEI XL30 un choix idéal pour ceux qui souhaitent effectuer des analyses et des observations détaillées. La combinaison du microscope à faible vide et de la technologie électronique secondaire permet également à l'utilisateur de visualiser le matériau et les structures atomiques et magnétiques, fournissant une image complète et détaillée de l'échantillon observé.