Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #9062875 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 30 est un microscope électronique à balayage puissant et polyvalent (SEM) pour les applications d'émission de champ (FE) et de tension accélérée (AV) SEM. C'est un SEM haut de gamme et haute résolution avec un ensemble complet d'accessoires. Le FEI XL 30 est doté d'un système unique de contrôle des canons qui permet soit un canon à émission de champ (FE), soit un canon à tension d'accélération (AV). Le canon à émission de champ fournit une source d'énergie stable et est capable d'atteindre des puissances de faisceau d'électrons élevées, permettant une imagerie et une analyse précises. Le canon à tension d'accélération est capable de produire des images à haute résolution à des énergies de faisceau d'électrons plus faibles qu'un canon FE. PHILIPS XL30 a un grossissement maximal de 100.000x et une distance de travail allant jusqu'à 500 microns. Il est équipé d'un étage d'échantillonnage à haute résolution à 3 axes qui permet l'observation inversée et avant, ainsi que la manipulation précise de l'échantillon. PHILIPS XL 30 est capable d'imagerie haute sensibilité avec une gamme de détecteurs, y compris un détecteur intégré ultra-bas vide (ULV), et est compatible avec une variété de détecteurs. Il dispose également d'une grande chambre de détection, permettant une large gamme de tailles d'échantillons à imager. Le principal avantage de FEI XL30 est sa capacité à acquérir, stocker et analyser de grands ensembles de données, grâce à un système de stockage de données de grande capacité. Il comprend également une variété de logiciels qui sont adaptés pour l'imagerie et l'analyse SEM, permettant l'acquisition et le stockage automatisés de données. En outre, XL30 SEM est idéal pour l'imagerie d'une variété d'échantillons, y compris ceux avec de petites caractéristiques et ceux avec de faibles constantes diélectriques. Il est capable d'imiter des échantillons non conducteurs et difficiles sans avoir besoin d'une préparation spéciale. Dans l'ensemble, PHILIPS/FEI XL30 SEM offre de puissantes capacités d'imagerie et d'analyse de divers échantillons. Il est équipé d'une large gamme de fonctionnalités avancées, permettant une imagerie précise et très précise et l'acquisition de données.