Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #9096263 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 30 est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour diverses applications de caractérisation et d'imagerie des matériaux. FEI XL 30 est un SEM haute performance conçu pour fournir une imagerie haute résolution et une analyse détaillée des matériaux. Il est équipé d'un goniomètre, qui permet un réglage angulaire précis pour l'orientation des échantillons, et d'une unité de basculement automatique pour un basculement rapide et facile des niveaux de vide et/ou d'azote liquide. Le SEM dispose également d'un équipement de faisceau d'or, qui fournit à la fois SEM et faisceau ionique focalisé (FIB) capacités d'imagerie. Le système est équipé d'un détecteur Everhart-Thornley, qui permet une imagerie haute résolution à partir de tensions plus basses, entraînant la plus faible correction de dérive de tout autre SEM sur le marché. Cette unité dispose également d'une fonction de couture d'image automatisée pour analyser facilement les grands échantillons, et d'une machine numérique à rayons X pour l'imagerie semi-quantitative haute résolution des échantillons en vrac. PHILIPS XL30 utilise un canon à émission de champ Schottky (FEG) et une interface Gatan Omega UltraScan, offrant une stabilité et une résolution élevées. L'outil est également capable d'imagerie locale et est équipé d'une base lourde qui permet le montage et le chargement d'échantillons. Ses étages HV à 5 axes comportent des micro-moteurs qui permettent une manipulation plus précise des échantillons. En plus des étages d'échantillons, FEI XL30 dispose d'un contrôle de taille de spot variable, fournissant un contrôle électronique secondaire précis et un contrôle de la température de l'échantillon isotherme. En plus de ses capacités d'imagerie, XL30 est capable d'imagerie chimique avec la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie avancée (EDS). Il offre également une gamme de capacités avancées, telles que la navigation automatisée rapide et complète, la préparation et l'imagerie d'échantillons sous vide et le dépôt de films. Grâce à sa capacité d'imagerie exceptionnelle, le XL 30 est une option fiable et précise pour diverses applications d'analyse de matériaux.