Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #9151973 à vendre en France

ID: 9151973
Scanning electron microscope (SEM) Stage: Manual OS: Windows NT Parts machine Missing parts Main body: Diffusion pump Solenoid valve VIB Board Display unit: PC MIB1 PCB Rotary pump.
PHILIPS/FEI XL 30 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour fournir une imagerie haute résolution, une qualité d'image supérieure et une analyse élémentaire précise. Avec ses capacités d'imagerie ultra haute résolution et avancées, le FEI XL 30 est idéal pour la caractérisation des matériaux et l'imagerie 3D, ce qui en fait un outil précieux pour les scientifiques et les ingénieurs. PHILIPS XL30 est alimenté par une source d'énergie FEG (field emission gun), qui permet une imagerie rapide et efficace avec une large gamme de courants de faisceau. Ce microscope électronique présente un grand champ de vision agrandi de 150 mm, permettant d'observer de grands échantillons. La grande profondeur de champ rend PHILIPS/FEI XL30 idéal pour l'analyse de surfaces à grande échelle et pour l'imagerie de structures profondes. Pour l'analyse élémentaire, PHILIPS XL 30 offre des capacités d'imagerie avancées innovantes telles que la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS) et la spectroscopie à rayons X dispersive de longueur d'onde (WDS). Avec EDS, la composition élémentaire d'un échantillon peut être déterminée avec précision, tandis que WDS mesure la composition chimique locale à la surface de l'échantillon. Ces techniques permettent d'identifier avec précision la structure et la composition des échantillons au plus haut niveau de détail. XL 30 fournit une imagerie 3D non destructive, permettant de visualiser des caractéristiques de surface et des structures internes. Le microscope dispose d'un équipement d'étape automatisé et d'un logiciel intégré pour l'acquisition, l'analyse et l'établissement de rapports de données efficaces. Des modules logiciels spécialisés permettent aux biologistes de faire tourner et de manipuler les reconstructions 3D d'un échantillon, fournissant ainsi des informations précieuses sur sa structure interne. XL30 est un système convivial qui facilite la mise en place, l'exploitation et la maintenance. Son interface utilisateur intuitive garantit des changements rapides et de nouveaux paramètres d'imagerie peuvent être rapidement intégrés. En outre, cette unité est compatible avec une variété de périphériques tels que détecteurs, caméras et adaptateurs, offrant une plus grande flexibilité pour personnaliser la machine en fonction d'applications particulières. Dans l'ensemble, FEI XL30 est un microscope électronique à balayage polyvalent qui offre une résolution d'imagerie supérieure, des capacités d'analyse élémentaire précises et une imagerie 3D critique pour la caractérisation des matériaux. Sa combinaison de fonctionnalités avancées, de fiabilité et de convivialité en fait un outil puissant pour la recherche et les applications industrielles.
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