Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #9203026 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 30 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie haute résolution et l'analyse d'échantillons. Il est équipé d'un détecteur d'électrons secondaires (SE) dans la lentille et d'une source d'émission de champ (FE). Le détecteur dans la lentille donne au microscope la capacité d'acquérir des images topographiques avec une grande profondeur de champ et de produire des images supérieures sur tout le champ de vision. La source d'émission sur le terrain, alimentée par du gaz xénon, offre une luminosité élevée, une faible diffusion d'énergie et des réglages précis. La combinaison de l'émission in-lens et de l'émission sur le terrain fait du FEI XL 30 un excellent outil de recherche. Le microscope est équipé d'un détecteur intérieur unique qui peut fonctionner à trois grossissements différents : 10, 30 et 60x. Ce détecteur à haute sensibilité présente de faibles caractéristiques de niveau de bruit et permet une acquisition d'image SEM précise. L'amplificateur de signal SE intégré permet également au microscope de générer des images SE de l'échantillon avec des contours et des nuances de gris. Le détecteur FEI X-Ageusement SEM est équipé de la technologie brevetée X-Tilt qui permet l'imagerie et l'analyse 3D. Cette combinaison avec le détecteur haute sensibilité rend PHILIPS XL30 parfait pour les tâches d'imagerie 3D. Il fournit également une vitesse de balayage plus rapide du fait que le détecteur SE est situé au niveau du plan focal arrière de l'objectif, ce qui se traduit par un temps mort réduit. PHILIPS XL 30 offre une variété d'applications analytiques, y compris la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS), la diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD), la cathodoluminescence (CL) et la spectroscopie de perte d'énergie d'électrons (EELS). Il offre également des capacités avancées de traitement d'image telles que le champ lumineux, le champ sombre et le contraste de polarisation. Ceci est facilité par une interface utilisateur graphique conviviale qui est facile à utiliser et permet aux utilisateurs d'obtenir rapidement et avec précision les images et les données souhaitées. XL 30 est le choix idéal pour les chercheurs et les ingénieurs qui ont besoin d'un instrument de laboratoire SEM W de qualité supérieure, fiable, rapide et précis. Il offre la combinaison parfaite d'excellentes performances, d'un fonctionnement convivial et d'une large gamme de capacités analytiques avancées. Il offre d'excellents résultats pour pratiquement toutes les applications d'analyse d'échantillons ou d'imagerie.