Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #9236587 à vendre en France

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ID: 9236587
Scanning Electron Microscope (SEM) Operating system: Windows 3.1 Source: Tungsten hair pin type Vacuum system: Diffusion pump type Detector: SE and BSE Detector Auto stage option Missing parts: Diffusion pump system TMP and vacuum interface PCB SE-Detector unit Rotary pump PC System.
PHILIPS/FEI XL 30 est un microscope électronique à balayage (SEM) produit par la société FEI. Ce modèle de SEM est un microscope électronique secondaire, qui est optimisé pour le fonctionnement avec une large gamme d'échantillons, de tailles et de matériaux. Il est capable de produire des images 3D haute résolution d'objets grâce à l'utilisation d'un faisceau d'électrons focalisé sur l'échantillon. FEI XL 30 est connu pour sa précision et sa précision dans les objets d'imagerie, qui est due en partie à une conception qui intègre la capacité environnementale avec un équipement numérique d'imagerie et de contrôle. Ce système permet un haut degré de contrôle dans la mise en place du microscope et la capture d'images. L'étage x-y pour PHILIPS XL30 peut se déplacer jusqu'à 175mm dans les deux sens, et il a une vitesse maximale de 50mm/s. Il dispose également d'une chambre à pression variable pour contrôler l'environnement dans lequel l'échantillon est vu, qui peut être ajustée entre deux et six mille pascals. Un servomoteur fournit des tensions d'accélération de 10KV à 30KV, permettant une large gamme de conditions de fonctionnement. L'unité est également livrée avec un contrôleur d'étage automatisé qui permet un déplacement automatisé de l'étage. Ceci peut être ajusté par l'utilisateur, et le microscope dispose d'une machine d'équilibrage automatique de l'échantillon qui maintient le niveau de surface de l'échantillon à tout moment. L'outil d'imagerie primaire du microscope est constitué d'un détecteur d'électrons secondaire, qui fournit un fort contraste dans les images produites par le microscope. Les autres caractéristiques de l'actif sont son scintillateur intégré et son capteur de pression réglable, qui permet à l'utilisateur de contrôler la pression de la chambre d'échantillonnage. FEI XL30 est également équipé d'un convertisseur de balayage, qui convertit le faisceau d'électrons entrant en signaux numériques afin que les images puissent être affichées sur un moniteur d'ordinateur. En outre, le modèle est livré avec un contrôle d'injection au microscope automatisé qui permet l'imagerie sur des échelles de temps d'autocorrélation allant jusqu'à cinq secondes. Ce modèle de SEM est idéal pour un large éventail d'applications, de l'éducation et de la recherche à des fins industrielles. Ses capacités de contrôle environnemental, sa précision d'imagerie, sa sensibilité et ses options automatisées en font un choix fiable pour les utilisateurs de divers milieux.
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