Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #9243798 à vendre en France

Il semble que cet article a déjà été vendu. Consultez les produits similaires ci-dessous ou contactez-nous et notre équipe expérimentée le trouvera pour vous.

PHILIPS / FEI XL 30
Vendu
ID: 9243798
Scanning Electron Microscope (SEM).
Le microscope électronique FEI XL 30scanning (SEM) est un microscope électronique à balayage à grande puissance et à grand champ de vision conçu pour l'imagerie et l'analyse de matériaux à haute performance. Le SEM dispose d'une grande chambre de spécimen avec des plages de grossissement entre 4X et 30X avec une distance de travail étendue. Cela permet d'examiner avec précision des spécimens jusqu'à 256mm dans la direction x-y-z. Il dispose également d'une source d'électrons en colonne Schottky d'émission de champ (FEG) avec un filtre d'énergie intégré. Cela permet une imagerie vive et contrastée avec des aberrations chromatiques réduites. Le canon à électrons FEG a une longue durée de vie, assurant des performances stables dans le temps. De plus, PHILIPS/FEI XL 30 est équipé d'un processeur de signal numérique (DSP) qui permet des applications d'imagerie avancées. Les capacités de détail avancées de ce SEM permettent l'imagerie précise des caractéristiques jusqu'à 0,04nm sur des spécimens standard. Les capacités automatisées d'observation par inclinaison et focalisation fournissent une excellente imagerie morphologique de surface, ainsi qu'une analyse transversale. L'imagerie haute résolution est encore améliorée par l'incorporation d'une lentille d'objectif de polarisation haut de gamme couplée à une correction achromatique automatisée. Les capacités de mesure analytiques avancées de FEI XL 30 comprennent une spectroscopie basse tension précise, une identification élémentaire complète de 0,1 % à 100 % et une analyse qualitative et quantitative avancée de la composition chimique au niveau atomique. Il dispose d'une large gamme de détecteurs disponibles depuis EDX et WDX jusqu'à EBSD, Backscatter et Brightfield. L'ensemble du système SEM est exploité via une interface utilisateur graphique intuitive, permettant un fonctionnement facile ainsi que la paramétrisation des expériences. De plus, l'automatisation intégrée assure des opérations cohérentes et répétables, avec une automatisation partielle ou complète des processus. PHILIPS XL30 est un microscope électronique à balayage avancé idéal pour l'imagerie, l'analyse et la recherche haut de gamme. Il permet une imagerie précise au niveau du nanomètre, tandis que les fonctionnalités automatisées avancées assurent des opérations reproductibles et des résultats cohérents.
Il n'y a pas encore de critiques