Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #9259822 à vendre en France
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ID: 9259822
Scanning Electron Microscope (SEM)
Upgraded with point electronic
Tungsten pumped by diffusion pump
Electronics
Motorized stage
Trackball
Control panel
SE and BSE detectors
EDX Detector
Operating system: Windows 10.
PHILIPS/FEI XL 30 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui fournit un outil puissant pour l'imagerie microscopique et l'analyse d'échantillons au niveau du nanomètre. FEI XL 30 est capable d'imagerie haute résolution, avec une résolution inférieure à 0,3 nanomètres, et de détection simultanée de trois modalités d'imagerie : électrons secondaires, électrons rétrodiffusés et spectroscopie X. PHILIPS XL30 est un instrument grand et polyvalent, doté d'une gamme impressionnante de fonctionnalités et de capacités. Il fournit des capacités de semi-automatisation, avec un environnement ergonomique et convivial WORKPLACE, permettant aux utilisateurs de travailler efficacement et efficacement. Le système est équipé de la dernière technologie de positionnement des échantillons de Scanning Augmented Pre-Aligned (SAP), qui permet un réglage rapide et précis de la position répétable. Le monochromateur intégré à FEI XL30 a une configuration à 3 pôles, ce qui donne un faisceau d'électrons qui est éclairé de façon homogène sans aberrations de coma visibles, assurant des conditions d'imagerie optimales. La fonction Super-résolution permet une meilleure détection des structures fines au niveau du nanomètre. Le détecteur SEM-EDS fourni par PHILIPS/FEI XL30 est capable d'acquérir simultanément des informations à partir de particules chargées multiples, permettant de détecter des éléments jusqu'au magnésium (9) sur le tableau périodique. Il dispose d'un logiciel d'acquisition et d'analyse complètement intégré, permettant une gestion avancée des données sans paquets externes. XL30 utilise à la fois les technologies TrueDepth™ et TrueContrast™ pour augmenter la profondeur de champ et fournir un contraste et une résolution supérieure. La source d'électrons à double filament permet une dynamique étendue et une stabilité améliorée, tandis que les caractéristiques de correction du système d'imagerie réduisent le temps et l'effort manuel lors de la correction de la position de dégazage ou des réglages courant/tension. En conclusion, PHILIPS XL 30 est un puissant SEM conçu pour fournir des capacités d'imagerie sans précédent dans la recherche et l'industrie. Il offre une gamme impressionnante de caractéristiques, de technologies et de capacités, avec un design ergonomique adapté aux besoins des scientifiques et des ingénieurs industriels. Avec ses capacités avancées et sa gamme étendue de fonctionnalités, le XL 30 offre un choix complet d'instrumentation pour l'analyse de surface et l'imagerie.
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