Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #9260099 à vendre en France
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Vendu
ID: 9260099
Style Vintage: 2001
Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM)
Magnification: 100x to 100,000x
PELTIER Cooled specimen stage between -5°C and +60°C
Equipped with:
SE and BSE detectors
High and low (ESEM) vacuum modes
Imaging capabilities:
Secondary Electron (SE) detector for imaging under high-vacuum
Backscattered Electron (BSE) detector for imaging under high-vacuum
Large Field Detector (LFD) used between 0.1 and 1.0 torr to detect BSE and SE signals at low accelerating voltage
Gaseous Secondary Electron Detector (GSED) allows SE detection at up to 20 torr
Wide angle GSED allows SE imaging at up to 10 torr
Standard Secondary Electron (ESD) detector contains a 500 µm aperture for imaging up to 20 torr
Standard / Wide angle X-ray ESD has a working distance of 10 mm
Gaseous BackScattered Electron (GBSD) Detector allows BSE, SE, or BSE+SE imaging up to 10 torr using 500 µm aperture
Stage can accommodate
(7) 0.25" SEM stubs
(3) 1" SEM stubs
(2) Standard-sized petrographic thin sections
2001 vintage.
PHILIPS/FEI XL 30 est un type de microscope électronique à balayage (SEM) largement utilisé dans l'industrie, la fabrication et les laboratoires scientifiques. C'est un instrument puissant qui peut agrandir des objets jusqu'à 300 000 fois ou plus, permettant aux utilisateurs de voir des détails complexes de l'échantillon examiné. Il s'agit d'un système à deux faisceaux, c'est-à-dire qu'il y a deux faisceaux d'électrons, l'un pour l'obtention d'images à haute résolution et l'autre pour la nanoprotection de l'échantillon. Le système d'imagerie est basé sur une source d'émission de champ de tungstène qui est utilisé pour produire le faisceau de haute énergie des électrons. Ces électrons sont ensuite focalisés à l'aide d'une combinaison d'aimants et de lentilles électrostatiques avant d'atteindre l'échantillon. L'échantillon est placé dans une chambre à vide pour analyse, où il est vu à divers agrandissements sur l'écran de visualisation. Le SEM utilise les électrons secondaires de l'échantillon pour former une image qui peut ensuite être analysée en détail. Les capacités d'imagerie du microscope FEI XL 30 comprennent également des caractéristiques telles que l'imagerie électronique rétrodiffusée, la microscopie électronique à transmission à balayage (STEM), la cathodoluminescence et l'imagerie de courant induite par faisceau d'électrons. Cela permet aux chercheurs d'imaginer et d'analyser toute une gamme de caractéristiques de l'échantillon. Le faisceau d'électrons est très contrôlable, avec une taille de tache aussi petite que 0.2nm, le courant de faisceau réglable et la tension d'accélération, et la cartographie automatisée des échantillons. L'étage de l'échantillon a trois axes de mouvement, permettant un positionnement précis, et les capacités de grossissement élevées sont améliorées par la lecture numérique du microscope. De plus, divers détecteurs sont disponibles pour l'analyse électronique, y compris les rayons X dispersifs d'énergie (EDX) et les rayons X dispersifs de longueur d'onde (WDS). PHILIPS XL30 est un instrument fiable et sophistiqué capable de produire des images détaillées et d'analyser un large éventail de matériaux et de composants. Sa robustesse et sa gamme de caractéristiques font de PHILIPS XL 30 un excellent choix pour les applications de microscopie électronique.
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