Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #9276335 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 30 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui fournit les capacités d'imagerie et d'analyse nécessaires à la recherche sur les matériaux et aux applications des sciences de la vie. Le SEM utilise un faisceau d'électrons focalisés pour générer des images de petites structures, permettant une vue agrandie de la surface du matériau à une résolution maximale de 0,8 nanomètres. La capacité d'imagerie du microscope est grandement améliorée par le niveau élevé des technologies de correction électronique-optique, ce qui en fait un outil idéal pour l'imagerie et l'analyse nano-échelle. FEI XL 30 dispose d'une source d'électrons fonctionnant à 200-30KV, avec 500-300KV en option, permettant une hauteur d'échantillon maximale de 5 cm et une hauteur d'échantillon minimale de 5 nm. Cette haute résolution et longue distance de travail permet d'observer de grands objets de forme irrégulière sans nécessiter de changement de lentilles. Le microscope comporte également un détecteur d'électrons secondaire dans la lentille et un détecteur d'électrons rétrodiffusés pour donner un contraste élevé entre des matériaux de densités différentes. PHILIPS XL30 est également équipé d'une variété de détecteurs et détecteurs qui permettent une gamme d'expériences et de capacités d'imagerie, dont certaines comprennent : la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) pour l'analyse élémentaire, la spectroscopie dispersive de longueur d'onde (WDS) pour l'analyse de surface, et le détecteur électronique rétrodiffusé (BSD) pour l'imagerie topographique. Un détecteur électronique direct haute résolution (DED) est également disponible pour l'imagerie cristallographique. Le microscope peut également être utilisé pour l'imagerie électronique secondaire (SEI), l'imagerie rétrodiffusée (BSI) et l'imagerie de contraste interférentiel différentiel (DIC). Les capacités de visualisation de PHILIPS/FEI XL30 sont encore améliorées par une série de logiciels d'acquisition, d'imagerie et d'analyse de données. Ce logiciel permet aux utilisateurs d'acquérir des images, d'effectuer des mesures quantitatives et d'accéder facilement aux données pour publication ou comparaison avec d'autres SEM. XL30 est un SEM idéal pour une variété de recherches telles que la nanotechnologie, la science des matériaux, la géologie, les sciences de l'environnement, les sciences de la vie et la criminalistique. Sa grande sensibilité et sa résolution en font un outil unique qui peut être utilisé pour examiner les matériaux et les processus non vus à des grossissements inférieurs. C'est également un excellent choix pour le contrôle de qualité dans l'industrie et les environnements éducatifs.