Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #9280521 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 30 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour une large gamme d'applications en nanosciences et nanotechnologies. Sa petite chambre d'échantillonnage, son fonctionnement à basse énergie et ses capacités d'imagerie améliorées la rendent particulièrement adaptée à l'imagerie basse tension et haute résolution de très petits échantillons. FEI XL 30 utilise une conception avancée de source d'électrons avec une colonne d'électrons conçue pour des tensions d'électrons ultra-faibles, ce qui le rend idéal pour obtenir des images à haute résolution de très petits échantillons. Le système haute optique offre une excellente résolution de points pour les petites fonctionnalités et les nanostructures. Il comprend également un système d'imagerie/optique numérique de pointe. Une gamme intégrée d'optiques fibrolytiques permet à PHILIPS XL30 d'imager des échantillons à résolution quasi atomique dans la gamme haute pression et basse dépression. En outre, XL 30 est équipé d'une large gamme de détecteurs pour des applications spécialisées. Un détecteur rétractable de rétrodiffusion fournit des images claires et contrastées des caractéristiques topographiques et élémentaires de l'échantillon. Un spectromètre à rayons X dispersif en énergie (EDS) est disponible pour une analyse élémentaire avancée. En outre, PHILIPS/FEI XL30 comprend un détecteur d'émission de champ qui peut fonctionner à des grossissements élevés dans la gamme de vide bas et ultra bas vide, fournissant des images avec une résolution sub-Ångström. PHILIPS XL 30 offre également une large gamme de fonctionnalités automatisées, ce qui le rend simple et rapide à utiliser. Une fonction de cartographie automatisée fournit un contrôle complexe de la puissance et de la tension pour générer un large éventail de contraste d'image. Un système automatisé de suppression des dérives élimine les artefacts de dérive et fournit des images plus précises. Les opérations automatiques de routine facilitent la préparation et l'analyse des échantillons, contribuant ainsi à maximiser la productivité et à minimiser la fatigue des utilisateurs. Enfin, XL30 est une plateforme SEM fiable et complète. Sa conception modulaire et son électronique sur mesure réduisent les besoins d'entretien et de réparation. Son fonctionnement sous vide réduit la dégradation et la contamination des échantillons. Ensemble, ces caractéristiques font de FEI XL30 un choix fiable pour l'imagerie nanométrique, la spectroscopie X dispersive d'énergie et d'autres applications avancées.