Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #9284171 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 30 est un microscope électronique à balayage à haute résolution (SEM) qui utilise des électrons haute tension pour scanner des surfaces de matériaux et produire des images de sa topographie, de sa morphologie et de sa composition élémentaire. Ce modèle offre des performances élevées avec une imagerie haute résolution et des opérations à grande vitesse. FEI XL 30 dispose d'un impressionnant écran plat à haute résolution brun, offrant à l'opérateur des images claires de leurs spécimens. Il a la capacité d'acquérir et de sauvegarder rapidement des images, y compris celles avec des superpositions de couleurs qui fournissent des contours détaillés et des images de compositions élémentaires pour l'analyse. De plus, l'image est directement projetée sur l'écran d'ordinateur pour une polyvalence maximale. PHILIPS XL30 offre également une gamme impressionnante de capacités automatisées, allant de l'alignement/ascenseur entièrement automatisé et du positionnement de la surface de l'échantillon à la correction automatique de la dérive. Il dispose également d'un déflecteur de faisceau dédié et d'un cadran de focalisation pour modifier la résolution des images. L'équipement robolab intégré permet de sélectionner des expériences prédéterminées, permettant d'automatiser le traitement et l'analyse. En termes de capacités d'exploitation, PHILIPS XL 30 dispose d'une large gamme d'options de balayage, du faible vide à l'ultra haute résolution dans les systèmes combinés. Il dispose également d'un puissant mode d'imagerie de contraste de phase, qui fournit contraste de phase et de grain ainsi que la focalisation, pour maximiser le détail de l'image. En outre, XL30 a une tension de faisceau réglable qui peut être réglé rapidement et précisément aux utilisateurs pour faciliter un meilleur fonctionnement de l'instrument. Pour une performance maximale, PHILIPS/FEI XL30 propose une unité de contrôle environnemental avancée, qui ajuste l'humidité, la température et la pression du gaz pour maximiser les performances. Ce modèle comprend également un système de filtre avancé pour réduire la quantité de polluants et de débris qui atteignent l'échantillon, ainsi que des planchers d'absorption du bruit pour réduire les vibrations. Sur le plan de la sécurité, FEI XL30 dispose d'un dispositif de verrouillage de sécurité pour la chambre de prélèvement, conçu pour obturer le faisceau d'électrons en cas de mouvement. Il existe également une machine de protection contre le courant de surcharge, qui protège les structures et composants environnants d'une surtension. De plus, XL 30 dispose d'un outil de freinage à impact doux qui permet un arrêt immédiat du faisceau d'électrons, minimisant tout dommage potentiel à l'échantillon.