Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #9300327 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 30 Scanning Electron Microscope (SEM) est un puissant outil de recherche conçu pour l'analyse des propriétés topographiques, électriques et chimiques d'une grande variété d'échantillons. Le FEI XL 30 est conçu pour la recherche analytique, l'industrie et l'éducation. La composante centrale du microscope est la colonne électronique, qui contient les lentilles, les déflecteurs et les champs magnétiques qui contrôlent le faisceau et produisent les images. La colonne de PHILIPS XL30 est capable de produire un faisceau focalisé dont la tache est inférieure à un nanomètre de diamètre. Le faisceau d'électrons est généré par une source d'électrons, et dirigé par une série d'ouvertures, de lentilles et de déflecteurs qui existent dans la colonne. Cela permet au microscope de focaliser et d'image à une large gamme de grossissements, de 0,3 nm à 500 nm. Les échantillons sont vus à l'intérieur de la chambre à vide. Afin de protéger les échantillons et les composants de la colonne, une pression de 5 x 10-7 mbar doit être maintenue dans la chambre. Les échantillons sont montés sur un porte-échantillon électriquement conducteur qui est placé dans la chambre. Le système d'imagerie SEM a la capacité de détecter les électrons secondaires et rétrodiffusés, ainsi que la diffraction à haute résolution. Les principaux modes d'imagerie offerts par XL30 sont le mode électronique secondaire à haute résolution, le mode électronique secondaire combiné et rétrodiffusé, le mode basse dépression et la spectroscopie électronique à plus forte fréquence. Le microscope possède également une gamme complète de capacités spectroscopiques pour l'analyse de la topographie de surface et de la composition élémentaire. Une caméra CCD avec un réseau CCD de 2048 x 2048 pixels peut être connectée au microscope afin d'obtenir des images numériques. PHILIPS/FEI XL30 est une machine très polyvalente et capable de générer une gamme de signaux, tels que le contraste d'interférences différentielles (DIC), les rayons X dispersifs d'énergie (EDX), la microspectroscopie à rayons X (X-RayMS), la cathodoluminescence (CL) et l'imagerie différentielle à éléments lumineux (LEDI). En conclusion, XL 30 Scanning Electron Microscope est un outil robuste et hautement fonctionnel pour l'imagerie et l'analyse. Avec sa gamme complète d'imagerie, de spectroscopie et de capacités analytiques, PHILIPS XL 30 offre une plateforme de recherche puissante dans un large éventail d'applications.