Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #9396739 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage PHILIPS/FEI XL 30 (SEM) est un SEM d'émission sur le terrain utilisé pour l'imagerie et l'analyse de matériaux et d'échantillons. FEI XL 30 peut obtenir des images d'échantillons avec une résolution de 3 à 5 nanomètres, ce qui en fait un outil idéal pour la recherche fondamentale, les applications des semi-conducteurs et des sciences de la vie. PHILIPS XL30 dispose d'une source d'électrons d'émission en champ froid, par opposition à une source thermionique, ce qui augmente la cohérence, la luminosité et la stabilité du faisceau d'électrons sur une gamme plus large de tensions d'accélération. Cette luminosité de source plus élevée permet d'améliorer la résolution de l'instrument en détectant des signaux de faible intensité. PHILIPS XL 30 est équipé d'un système de détection de rétrodiffusion haute performance, capable d'acquérir des données d'analyse de matériaux précédemment inaccessibles. Ce système permet à la fois l'imagerie classique et l'imagerie corrigée de l'aberration. Il comprend également deux détecteurs d'électrons secondaires vivants qui permettent l'imagerie simultanée de la topographie et de la structure de surface. En outre, XL 30 comprend des capacités avancées de traitement et d'analyse d'images. La fonction d'optimisation d'image automatisée permet d'obtenir une qualité d'image optimale, tandis que l'étage auto-centré peut interagir avec plusieurs étages z-axes et manipulateurs pour fournir une gamme de mouvement. En ce qui concerne la manipulation des échantillons, PHILIPS/FEI XL30 est équipé d'un large éventail de porte-échantillons et d'étapes. Ceux-ci comprennent tout, du manipulateur d'échantillons sous vide à un porte-cryo pour l'imagerie à basse température. De plus, FEI XL30 utilise le contrôle environnemental automatisé pour fournir une gamme de conditions environnementales. Enfin, XL30 offre une gamme de caractéristiques de sécurité, y compris un blindage de rayonnement de chambre amélioré, l'isolation mécanique des vibrations et un système auto-étage d'évitement des collisions. Dans l'ensemble, PHILIPS/FEI XL 30 est une plate-forme idéale pour la microscopie électronique, avec ses caractéristiques et performances de pointe. La combinaison de capacités d'imagerie avancées, d'étapes d'échantillonnage et de caractéristiques de sécurité fait du FEI XL 30 un instrument idéal pour la découverte et la recherche.