Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #9398344 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 30 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour l'imagerie précise et l'analyse des matériaux. Il est conçu pour gérer des tâches difficiles avec une grande précision et une grande vitesse. L'unité est équipée d'un canon à électrons avancé et d'un équipement de lentille réglable qui offre des performances et une résolution supérieures dans un large éventail d'applications. FEI XL 30 est conçu pour focaliser et détecter avec précision les électrons sur une grande zone d'imagerie. La capacité d'imagerie de haute qualité est encore renforcée par la capacité du système à commuter entre plusieurs sources d'électrons allant de faible à haute puissance. L'objectif principal est supporté par une machine à lentille secondaire haute résolution pour l'inclusion de petites caractéristiques. L'unité comprend des détecteurs haut de gamme pour mesurer les caractéristiques jusqu'à un seul micromètre ou moins. Avec un détecteur d'électrons phosphorescent et secondaire à haute performance, l'unité peut fournir des images détaillées de matériaux de la gamme des sous-microns au niveau macro. De plus, une gamme de détecteurs et d'outils spectroscopiques peuvent être utilisés pour les analyses SEM-EDX, STEM-EDX et EDS. PHILIPS XL30 est équipé d'étapes de spécimen automatisées de précision pour assurer un déplacement régulier et rapide de l'échantillon. L'étape est conçue pour être facilement ajustée, permettant la collecte de données sur de longues périodes de temps. Comme l'étape est pilotée et inclinée en XY, diverses orientations de spécimen peuvent être réalisées facilement. L'agrandissement de l'échantillon peut également être ajusté en ajustant la distance source-échantillon inférieure réglable automatiquement. PHILIPS XL 30 supporte plusieurs modes opérationnels pour permettre à l'utilisateur d'étudier une variété de matériaux et de structures. Parmi ceux-ci, on peut citer l'imagerie électronique secondaire (EI), l'imagerie électronique rétrodiffusée (BEI), la diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD) et la cathodoluminescence (CL). Avec la fonctionnalité ajoutée d'EDS, l'unité est capable d'effectuer l'analyse de composition et la cartographie au niveau des sous-microns. En résumé, PHILIPS/FEI XL30 est un SEM polyvalent et puissant conçu pour fournir une imagerie précise, l'analyse des matériaux et la cartographie de la composition. L'unité est équipée de sources et de détecteurs d'électrons avancés, d'outils d'analyse multiples et d'étapes automatiques de prélèvement pour assurer des résultats plus faciles et plus productifs.