Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #9408620 à vendre en France

ID: 9408620
Scanning Electron Microscope (SEM) Chamber Tungsten source No EDX.
PHILIPS/FEI XL 30 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui comprend un grand champ de vision, une vitesse de balayage rapide et des capacités d'imagerie haute résolution. FEI XL 30 a été conçu pour la recherche et les applications industrielles. Son optique électronique avancée et ses nouvelles technologies d'imagerie lui permettent d'améliorer considérablement la qualité des données brutes. Le grand champ de vision du microscope offre un niveau de détail sans précédent qui n'est pas disponible dans les SEM standard. Par exemple, il peut facilement réaliser des sections d'objets qui n'ont jamais été vues auparavant à une fraction du coût par rapport à la coupe manuelle. Il est également capable de balayage rapide, avec des vitesses de balayage plus élevées que n'importe quel autre SEM dans sa classe. Les capacités d'imagerie de PHILIPS XL30 sont améliorées par son optique électronique de pointe. Un filtre Wien au germanium modifié assure une excellente résolution d'image même à faible énergie de faisceau. Il en résulte une profondeur de champ impressionnante et une profondeur de focalisation exceptionnelle. Le degré de stabilisation du vide est également assuré par un suppresseur d'électrons secondaire breveté (SES) qui peut s'ajuster instantanément aux nouvelles conditions de vide pendant l'utilisation. De plus, le XL 30 a été conçu pour être facile à utiliser. Son interface utilisateur comprend des conseils et des conseils utiles pour les nouveaux utilisateurs ainsi que des capacités de traitement automatisé des images. La cartographie du champ électrique, la détection automatique des bords et les mesures de topographie de surface sont également prévues pour une analyse améliorée des échantillons. En résumé, PHILIPS/FEI XL30 est un SEM puissant et polyvalent qui offre des performances inégalées en résolution d'image, vitesse et champ de vision. Son optique avancée, son interface utilisateur intuitive et ses fonctionnalités automatisées lui permettent de devenir un outil idéal pour la recherche et les applications industrielles.
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