Occasion PHILIPS / FEI XL 30S #293674765 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 30S est un microscope électronique à balayage polyvalent (SEM) avec une combinaison unique de hautes performances, capacités et rentabilité. Son large éventail de capacités et sa conception conviviale en font un choix populaire pour l'industrie, le milieu universitaire et la recherche. Cet équipement SEM de pointe est conçu pour une expérience d'imagerie optimisée et d'orientation cristalline. Il est configuré avec un système optique à 4 axes qui fournit jusqu'à 18 kV grossissement du faisceau et 10 nm de résolution. L'unité dispose d'une machine de chargement automatique d'échantillons de carbone haute pression pour un chargement rapide et fiable des matériaux de l'échantillon. D'autres caractéristiques impressionnantes de FEI XL30S comprennent un outil d'auto-alignement pour les étapes d'échantillonnage, un changeur d'échantillon intégré Brucker/Sargent, et un porte-échantillon à vide pour l'analyse des échantillons à faible kV. Le porte-échantillon a une grande surface de travail et est conçu pour maximiser le débit. PHILIPS XL 30 S est conçu pour fonctionner dans un environnement à faible kV avec une résolution d'image élevée pouvant atteindre 12 nm à 10 kV. Pour ce faire, on utilise des algorithmes de traitement d'images numériques de haute intensité et un contraste dynamique élevé. Il dispose également d'un étage motorisé haute performance, basse vibration avec une structure de raideur faible. L'actif avancé FEI XL 30S est équipé d'un logiciel d'acquisition de données E-Z et d'un logiciel d'analyse E-Z pour améliorer l'analyse d'images et les expériences de reporting. La suite d'acquisition de données E-Z comprend des logiciels de traitement d'image, d'analyse microstructurale, de mesure de texture et de détermination de la composition élémentaire. Le modèle est conçu pour un large éventail d'applications. Sa polyvalence et sa facilité d'utilisation le rendent adapté aux études d'imagerie et d'orientation des cristaux dans divers marchés, y compris les matériaux industriels, les substrats semi-conducteurs, les revêtements et la métallurgie. Dans l'ensemble, XL30S est un choix idéal pour les laboratoires et les installations de recherche à la recherche de capacités SEM hautes performances avancées. Son imagerie haute résolution à débit rapide en fait un choix idéal pour une analyse rapide et une analyse plus détaillée des spécimens.