Occasion PHILIPS / FEI XL 40 #293610598 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 40 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour fournir aux utilisateurs des capacités de balayage puissantes et fiables. Ce microscope de pointe est capable de fournir des grossissements allant jusqu'à 25 000 x avec une résolution supérieure à 1 nm. Il offre également un vaste champ de vision et fournit aux utilisateurs l'observation en temps réel des processus qui se produisent dans les échantillons de taille nanométrique. Le FEI XL 40 est équipé d'un canon à émission de champ qui permet un courant faible et une densité de courant élevée qui permet une plus grande précision et résolution. Ce SEM dispose également d'un détecteur d'électrons primaire et secondaire (PE/SEC) permettant aux utilisateurs de passer rapidement entre les modes de collecte de données et d'imagerie, ce qui améliore l'efficacité. De plus, PHILIPS XL-40 comprend un détecteur de rétrodiffusion permettant aux utilisateurs d'identifier différents matériaux dans un échantillon, ainsi qu'un détecteur à rayons X dispersif d'énergie (EDS) pour l'analyse élémentaire. PHILIPS/FEI XL-40 dispose également d'un moniteur plat de haute qualité et d'une motorisation à six axes, offrant aux utilisateurs un balayage automatisé des échantillons. PHILIPS XL 40 est conçu pour être compatible avec les EM corrigés de l'aberration, permettant aux utilisateurs d'observer et de photographier des spécimens avec une résolution et une définition améliorées. Ce système est également équipé de Stage Autofocus, qui permet aux images de rester focalisées pendant que la scène est tournée sur plusieurs axes. XL-40 est un SEM avancé conçu pour fournir aux utilisateurs des capacités de balayage et de résolution maximales. Ses fonctionnalités avancées telles que la correction d'aberration, l'EDX, l'imagerie haute résolution et le balayage d'échantillons en font un choix idéal pour la recherche, la fabrication et les applications universitaires.