Occasion PHILIPS / FEI XL 40 #293627438 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 40 est un microscope électronique à balayage de deuxième génération (SEM) conçu pour diverses applications. Il offre une gamme de capacités d'imagerie haute résolution, et peut être utilisé pour visualiser des échantillons à un niveau atomique. Le SEM se compose de plusieurs composants clés, et est capable d'obtenir des grossissements allant jusqu'à 400 000 x. Au cœur du FEI XL 40 se trouve son canon à électrons. Le canon génère un faisceau d'électrons, qui sont accélérés vers l'échantillon, et à l'arrivée de l'échantillon, les interactions entre le faisceau et l'échantillon génèrent des signaux. Ce procédé, connu sous le nom d'émission secondaire d'électrons, donne une image en gris qui révèle des caractéristiques de l'échantillon avec une résolution allant jusqu'à 1 nanomètre. PHILIPS XL-40 intègre également un correcteur d'aberration chromatique et sphérique à haute résolution dans la colonne. Ce correcteur permet l'imagerie et l'analyse simultanées de l'échantillon sous différents angles, et réduit les aberrations indésirables qui peuvent conduire à une interprétation incorrecte de l'image. Le PHILIPS XL 40 est équipé d'une technologie AutoTune, unique à la FEI. Cette technologie permet au SEM d'être facilement exploité, même par des techniciens inexpérimentés. Cette technologie permet une optimisation multi-points contrôlée par l'utilisateur, permettant une analyse plus rapide et une meilleure performance d'imagerie. FEI XL-40 intègre une gamme d'autres caractéristiques, y compris une taille de tache de balayage de 10nm, une gamme spectrale de 10nm d'EDS et un refroidissement à faible kV. Ces caractéristiques permettent au SEM de recueillir le maximum de données utiles de l'échantillon. Pour aider l'utilisateur à interpréter les données, PHILIPS/FEI XL-40 est équipé d'une gamme de techniques analytiques, y compris l'EDS (spectroscopie dispersive d'énergie) et le WDS (spectroscopie dispersive de longueur d'onde). Avec ces techniques, une analyse élémentaire détaillée de l'échantillon peut être effectuée. Dans l'ensemble, le XL 40 est un excellent SEM pour une large gamme d'applications. Ses capacités automatisées, ses capacités d'imagerie haute résolution et sa gamme de techniques d'analyse lui permettent de générer des informations détaillées sur les échantillons au niveau atomique.