Occasion PHILIPS / FEI XL 40 #293650347 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 40 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui est utilisé pour l'analyse détaillée d'une gamme de matériaux. Il dispose d'un mode de pression variable qui permet à l'utilisateur de contrôler la pression dans la chambre ce qui est important pour l'imagerie d'échantillons fragiles tels que la matière biologique. La combinaison de la source d'émission de champ et du détecteur de gaz spécial Everhart-Thornley permet au microscope de fonctionner dans différentes conditions et de délivrer des images à très haute résolution grâce à une grande profondeur de focalisation. La particularité de ce microscope est sa capacité à travailler en mode tridimensionnel permettant aux utilisateurs de construire et de manipuler des reconstructions 3D très détaillées de composants et de nanostructures. Le microscope est équipé d'un détecteur intégré de haute puissance EDS (Energy Dispersive X-ray Spectromtry) qui permet une analyse élémentaire simultanée des échantillons. Le détecteur EDS est en outre intégré à un système de chargement rapide automatisé des échantillons pour faciliter l'obtention d'une cartographie complète des composants. La combinaison de ces caractéristiques donne un spectre multiforme de capacités analytiques qui permettent une bonne compréhension de la composition de l'échantillon. Le FEI XL 40 dispose également d'un détecteur dans les lentilles qui permet un meilleur contraste et une meilleure résolution pour l'imagerie. Le détecteur dans la lentille utilise une plate-forme basse kV unique qui module la charge électrique du faisceau d'électrons afin d'augmenter le contraste des images et d'améliorer la résolution. Cette fonctionnalité combinée à un système autoscan in-lens rend ce microscope idéal pour capturer le plus haut niveau de détails dans un large éventail de matériaux. Construit sur une plate-forme ouverte facilement évolutive, PHILIPS XL-40 est conçu pour répondre aux exigences les plus exigeantes. Il est conçu pour être ergonomique et peut être rapidement et facilement assemblé et utilisé avec un minimum d'entraînement. En ce qui concerne la surveillance, PHILIPS/FEI XL-40 est équipé d'une interface utilisateur intuitive qui permet une fonctionnalité simple et riche en fonctionnalités. En résumé, FEI XL-40 est un microscope électronique à balayage puissant et fiable qui est spécialement conçu pour l'analyse détaillée d'une variété de matériaux. Il est capable de fournir une imagerie extrêmement haute résolution et une analyse élémentaire simultanée grâce à ses caractéristiques technologiques innovantes. Il est également très contrôlable et intuitivement opérationnel, ce qui en fait un choix idéal pour une variété d'utilisateurs.