Occasion PHILIPS / FEI XL 40 #293659624 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage PHILIPS/FEI XL 40 (SEM) est un outil d'analyse avancé conçu pour une résolution supérieure du signal et une imagerie basée sur la résolution. Avec une gamme de caractéristiques, y compris le positionnement de haute précision et la manipulation automatisée des échantillons, ce microscope est idéal pour la caractérisation des échantillons, l'analyse de la structure et l'imagerie avancée. Le SEM fonctionne en utilisant un faisceau focalisé d'électrons pour exciter les électrons secondaires d'une surface d'échantillon. Ces électrons secondaires, détectés et amplifiés par le SEM, permettent l'imagerie d'un échantillon jusqu'au niveau atomique. Cette technique permet une résolution inégalée dans d'autres techniques de microscopie. Le FEI XL 40 est équipé d'un détecteur d'incrustations à extension permettant l'observation de l'échantillon en trois dimensions. Ce détecteur offre un contraste et une clarté d'image comparables à une photographie au niveau du coeur. En outre, PHILIPS XL-40 dispose d'un système à basse dépression en option qui permet l'imagerie sans charge d'échantillon, permettant l'étude de matériaux électriquement sensibles. Le microscope comprend également un réglage électronique de la focalisation et de la compensation de la dérive de focalisation, ce qui garantit que l'échantillon reste au point fort, ainsi qu'une préparation efficace de l'échantillon et des déplacements automatisés de l'étape de l'échantillon. Toutes ces fonctionnalités font de PHILIPS XL 40 l'un des SEM les plus avancés du marché. Le XL 40 est conçu pour offrir des performances et une fiabilité inégalées pour toutes les applications. Avec sa gamme de fonctionnalités, son positionnement précis et sa manipulation automatisée des échantillons, ce SEM est un choix parfait pour les applications nécessitant une résolution et une imagerie supérieures. Pour les organisations qui recherchent l'excellence en analyse d'échantillons, XL-40 est le microscope électronique à balayage parfait.