Occasion PHILIPS / FEI XL 40 #293665913 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage PHILIPS/FEI XL 40 (SEM) est un outil fiable et polyvalent pour l'ingénierie de précision et les applications des sciences des matériaux. Il est équipé d'un puissant faisceau d'électrons qui peut produire des images haute résolution d'échantillons à des grossissements allant jusqu'à 70,000X. FEI XL 40 est idéal pour l'imagerie d'échantillons minces et fragiles, tels que des matériaux 2D, et peut être utilisé pour analyser efficacement les surfaces d'une grande variété de matériaux, y compris les métaux et les semi-conducteurs. PHILIPS XL-40 est alimenté par une chambre à ultra-haut vide (UHV) EcoPlane qui maintient un environnement propre et à haut vide essentiel pour produire des images de haute qualité. Cette chambre dispose d'un délai moyen de 10 000 heures entre les pannes (MTBF), assurant la fiabilité et la précision sur une longue période. De plus, la résolution de l'image est activement mesurée et automatiquement corrigée pour assurer des résultats toujours précis dans le temps. FEI XL-40 dispose également d'un étage motorisé pour accueillir des échantillons plus gros et plus lourds, et peut être contrôlé avec un joystick pour une manipulation précise et facile. Pour permettre une mesure rapide et précise des spécimens, XL-40 est équipé d'une suite de logiciels spécialisés d'analyse de fonctionnalités et d'acquisition de données. La capture numérique d'images permet de sauvegarder des images pour une analyse plus poussée, et PHILIPS XL 40 peut facilement importer et exporter des images. De plus, le logiciel peut être utilisé pour le contrôle automatisé des échantillons, l'alignement automatisé des images et la création de cartes élémentaires qui révèlent la composition des motifs à la surface du spécimen. XL 40 est capable de produire une variété d'images, y compris les électrons secondaires et rétrodiffuseurs, la cathodoluminescence, les cartes de rayons X et les cartes élémentaires. Cette polyvalence lui permet d'être utilisé dans un large éventail d'applications, allant de l'inspection et de l'imagerie de dispositifs semi-conducteurs à l'étude de surfaces céramiques et métalliques. Le traitement et l'analyse méticuleux des échantillons par PHILIPS/FEI XL-40 peuvent ouvrir la porte à un aperçu précieux d'une variété de matériaux et de microstructures.