Occasion PHILIPS / FEI XL 40 #293763396 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 40 est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe doté de capacités exceptionnelles. Il est utilisé pour examiner les microstructures et la topographie 3D des matériaux à l'échelle nanométrique. Le système comprend une colonne contenant un faisceau d'électrons focalisés, un système de détection et une plate-forme de préparation d'échantillons. Le FEI XL 40 est équipé d'une colonne dédiée qui garantit des performances exceptionnelles. Il intègre un canon à électrons de type axial avec un filament chauffé et est capable d'accélérer des tensions maximales allant jusqu'à 30 kV. Il a une conception à deux colonnes avec une colonne à arc court pour permettre l'imagerie à faible grossissement et une colonne à arc long incliné pour l'imagerie à fort grossissement. Le système de détection PHILIPS XL-40 offre de multiples options de capture de signal. Sa configuration standard est équipée d'un détecteur d'électrons secondaire, d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés, d'un détecteur de lentilles et d'un détecteur d'imagerie par faisceau de signaux. Cela permet un large éventail de possibilités d'imagerie et d'analyse, telles que l'imagerie 3D vraie, spectres de composition, balayage de ligne, et bien plus encore. PHILIPS XL 40 comprend également une plate-forme de préparation d'échantillons. Cette plate-forme est équipée d'une gamme d'étages d'échantillons et d'accessoires, tels que l'étage d'échange rapide et l'étage FEI-QIT pour le transfert d'échantillons en ligne. Ces outils permettent aux utilisateurs de traiter et d'analyser une variété d'échantillons rapidement et avec précision. PHILIPS/FEI XL-40 est un outil puissant pour la recherche et les applications industrielles. Sa capacité basse tension et basse dépression le rend idéal pour les matériaux non conducteurs, et sa haute résolution d'image garantit aux utilisateurs la meilleure qualité d'images. Grâce à ses capacités exceptionnelles, XL-40 est un incontournable pour les scientifiques désireux d'effectuer des examens détaillés des matériaux à l'échelle nanométrique.