Occasion PHILIPS / FEI XL 40 #9049866 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage PHILIPS/FEI XL 40 (SEM) est un puissant outil d'imagerie pour caractériser une variété de matériaux. C'est un équipement utilisé pour étudier la topographie de surface et la composition des spécimens jusqu'à l'échelle nanométrique. Il a la capacité d'agrandir des spécimens jusqu'à x115000, avec une résolution de 0.50nm, et une clarté et une profondeur d'image autour de 1nm. La source d'éclairage est un canon à électrons, qui tire des électrons sur un écran à phosphore. Ces électrons interagissent alors avec le matériau cible, produisant des électrons secondaires qui sont capturés par le détecteur puis affichés sur un moniteur en image. FEI XL 40 SEM dispose d'une vaste gamme de capacités d'imagerie telles que l'imagerie rétrodiffusée, l'imagerie électronique secondaire et la cathodoluminescence. Il peut également être utilisé pour l'analyse de matériaux non conducteurs à l'aide d'un canon spécialisé capable de générer des électrons secondaires. De plus, le SEM a la capacité de détecter la composition chimique d'un matériau par analyse des rayons X dispersifs d'énergie (EDX). Ce logiciel fournit diverses techniques de traitement et d'analyse d'images, qui permettent à l'utilisateur d'effectuer des mesures précises des spécimens, d'extraire des cartographies des distributions macroparticulaires et d'augmenter considérablement les capacités du microscope. PHILIPS XL-40 SEM a une grande taille de chambre qui fournit un grand champ de vision, généralement 560 mm x 330 mm. Il peut accueillir de grands échantillons jusqu'à 30 « x 24 » et fournir une résolution jusqu'à 1nm lors de l'imagerie en mode basse dépression. Ce SEM a un porte-cryo d'azote liquide intégré (LN2) qui permet l'analyse d'échantillons à des températures aussi basses que -196 ° C Enfin, cet équipement dispose d'un échantillonneur automatisé et d'un manipulateur d'échantillons capables de déplacer et de faire tourner des échantillons, permettant l'analyse d'échantillons jusqu'alors impossibles en raison de leur taille ou de leur forme. PHILIPS/FEI XL-40 SEM est un outil essentiel pour caractériser les échantillons dans l'industrie, l'ingénierie et la recherche scientifique. Grâce à ses vastes capacités d'imagerie et d'analyse, les capacités du SEM peuvent être utilisées pour identifier la performance et la structure des matériaux, produire des cartes détaillées des surfaces des spécimens et acquérir un aperçu de la chimie des matériaux. Supplémentairement, la manipulation de promotion automatisée et le cryo-détenteur LN2 présentent plus loin améliorent les capacités de l'appareil pour les applications spécialisées qui exigent des températures extrêmement basses ou une manipulation de l'échantillon.