Occasion PHILIPS / FEI XL 40 #9248867 à vendre en France

ID: 9248867
Scanning Electron Microscope (SEM).
PHILIPS/FEI XL 40 est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour obtenir des images à haute résolution de spécimens à des niveaux de grossissement plus élevés que d'autres formes de microscopie. Il utilise les électrons, plutôt que la lumière, pour l'image d'un échantillon et l'image résultante permet l'analyse de caractéristiques extrêmement petites jusqu'à nanomètres en taille. Ce SEM dispose d'une colonne avancée de faisceau d'électrons avec un système de lentilles magnétiques réglables et une chambre d'analyse avec un insert spécial pour accueillir de plus grands échantillons. En termes de performances, le FEI XL 40 offre une résolution supérieure, un contraste supérieur et des rapports signal/bruit plus élevés par rapport à la microscopie lumineuse traditionnelle. Cela permet d'obtenir plus de détails et de clarté lors de l'imagerie de spécimens. Ce modèle dispose d'une large gamme de modes de fonctionnement adaptés à une variété de matériaux, tels que semi-conducteurs, polymères et échantillons vivants. En outre, il peut représenter de grands spécimens avec des vitesses de balayage jusqu'à 5000x levier physique par seconde. PHILIPS XL-40 dispose d'une multitude de fonctionnalités conçues pour simplifier le processus d'imagerie, y compris une interface graphique conviviale, un contrôle avancé des spécimens, une édition et une analyse à l'écran et une collecte automatisée des données. Le microprocesseur intégré permet également des mesures automatisées d'une gamme de paramètres, tels que l'épaisseur et la géométrie des échantillons. Le système est également équipé d'un réglage automatique du vide pour maintenir des conditions de travail optimales. En termes d'acquisition d'images, FEI XL-40 utilise une gamme de techniques microscopiques, y compris l'imagerie électronique secondaire, l'imagerie électronique rétrodiffusée et la microanalyse aux rayons X. Les images peuvent également être enregistrées dans une gamme de types de fichiers, y compris JPEG, BMP et TIFF. L'analyse des données peut être effectuée après l'acquisition à l'aide de logiciels spécifiques. XL-40 est adapté à une variété d'applications de recherche et commerciales, et est conçu pour être utilisé dans les milieux académiques et industriels. Il est capable d'imiter une gamme de particules à des fins à la fois analytiques et d'imagerie, ce qui le rend bien adapté à une variété d'études scientifiques.
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