Occasion PHILIPS / FEI XL 40 #9249027 à vendre en France

PHILIPS / FEI XL 40
ID: 9249027
Scanning Electron Microscope (SEM).
PHILIPS/FEI XL 40 est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe utilisé pour l'imagerie et l'analyse de divers échantillons biologiques et matériels. Il dispose d'une colonne optique haute résolution, équipée d'un équipement à pression variable automatisé et intègre le dernier détecteur EDS. Ce système d'imagerie SEM dispose d'une tension d'accélération jusqu'à 40 KV, ainsi que d'un canon d'émission de champ sans fenêtre pour un fonctionnement à haute luminosité et à faible bruit. Sa technologie de balayage rapide fournit des images avec une résolution de 60 µm, permettant la caractérisation détaillée des échantillons au niveau microscale. En outre, FEI XL 40 dispose d'une unité de chargement et de pulvérisation d'échantillons avec un manipulateur motorisé qui facilite le transfert d'échantillons, améliorant l'expérience utilisateur. En plus de ses capacités optiques, PHILIPS XL-40 offre une gamme importante d'instruments d'analyse pour l'analyse de la composition, y compris la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS). Avec une plage d'énergie allant jusqu'à 30 keV, ce détecteur EDS permet aux utilisateurs d'identifier et de quantifier avec précision les éléments jusqu'à la limite élémentaire. De plus, PHILIPS XL 40 comprend un In-Lens-Detector dédié qui permet une cartographie rapide aux faibles doses de faisceau et un détecteur Everhart-Thornley, parfait pour la compensation de charge. Il dispose également d'une étape robotique d'automatisation XYZ, qui permet un positionnement rapide et simultané des échantillons, offrant aux utilisateurs la capacité d'image et d'analyse des images ultérieures de points multiples sur un échantillon. Enfin, PHILIPS/FEI XL-40 comprend des logiciels conviviaux, avec une large gamme d'outils d'imagerie et d'analyse. En conclusion, XL 40 est une machine d'imagerie SEM haut de gamme, offrant une gamme complète de capacités d'imagerie et d'analyse pour des applications dans le milieu universitaire, la recherche et l'industrie. Avec ses détecteurs optiques et EDS, ses systèmes automatisés et son logiciel complet, cet instrument SEM peut fournir des images avec une résolution et une analyse supérieures avec une précision maximale.
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