Occasion PHILIPS / FEI XL 40 #9250114 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 40 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir des capacités d'imagerie et d'analyse haute résolution. Il est équipé d'un détecteur direct en colonne, qui fournit un niveau de résolution sans précédent. FEI XL 40 est capable d'imiter une grande variété de structures et de matériaux à une résolution inférieure à 1,5 nanomètres. Cela en fait un outil inestimable pour l'étude des structures et matériaux nanométriques. Le détecteur en colonne de PHILIPS XL-40, ou EDX, est un spectromètre qui est utilisé pour étudier la composition élémentaire d'un échantillon. Comme les électrons interagissent avec un échantillon, ils perdent de l'énergie. EDX mesure les pertes d'énergie et crée une carte élémentaire de l'échantillon, révélant la composition et la distribution élémentaires. Ceci permet d'étudier les caractéristiques morphologiques et chimiques en une seule analyse. PHILIPS/FEI XL-40 est également équipé d'un étage avancé, lui permettant d'obtenir une précision de localisation de 0,5 nanomètres. Cette étape est également équipée du système d'alignement AutoAlign, qui garantit que l'échantillon est toujours correctement positionné pour l'imagerie et l'analyse. La scène peut accueillir des échantillons jusqu'à 100mm de diamètre. XL-40 est parfait pour une variété de matériaux et de types d'échantillons. Son système à pression variable permet l'imagerie d'échantillons sous vide, tels que des liquides et des particules biologiques. En outre, le détecteur d'électrons rétrodiffusé fournit des images de contraste élevé qui sont idéales pour l'analyse d'échantillons plus épais, tels que les plastiques, les céramiques et les métaux. XL 40 dispose d'une gamme d'outils d'analyse haute performance, ce qui lui permet d'être utilisé pour une variété d'applications. Il s'agit notamment de la capacité d'imaginer et d'analyser des échantillons en 3D, d'effectuer des analyses topographiques, compositionnelles et de phase, et de mesurer la taille et la distribution des grains. Il dispose également d'une manipulation intelligente des échantillons, garantissant que les échantillons sont toujours positionnés avec précision et positionnés pour l'analyse. En résumé, FEI XL-40 est un puissant microscope électronique à balayage qui offre une résolution et des capacités analytiques inégalées. Son détecteur EDX en colonne, son étage de haute précision et son système à pression variable le rendent idéal pour un large éventail d'applications, de l'imagerie d'échantillons sous vide à l'analyse topographique, compositionnelle et de phase. Il fournit un niveau avancé de contrôle et d'intelligence, ce qui en fait le choix idéal pour les applications à l'échelle nanométrique.