Occasion PHILIPS / FEI XL 40 #9252220 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 40 Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument polyvalent qui offre aux utilisateurs des qualités d'imagerie exceptionnelles et une résolution supérieure. Il est capable d'atteindre des résolutions jusqu'à 1 nanomètre, ce qui le rend idéal pour des tâches d'analyse complexes. FEI XL 40 est équipé d'une variété d'accessoires pour accueillir presque n'importe quelle taille d'échantillon. Il dispose également d'une fonction d'auto-étalonnage qui permet aux utilisateurs de mesurer avec précision le spécimen à tout grossissement. PHILIPS XL-40 est alimenté par un équipement sous pression turbo-pompé à deux étages, offrant un environnement d'ultra-haute dépression qui est essentiel pour l'imagerie ultra-résolution. Le système est équipé d'étages de pompage différentiels, et la pression peut être régulée dans l'enceinte de l'échantillon. La tension de l'accélérateur a une plage de 0,001 à 30 kV pour donner aux utilisateurs une large gamme de contraste et de profondeur de champ. Le courant peut être réglé jusqu'à 1 µA, ce qui permet une imagerie précise. PHILIPS/FEI XL-40 dispose d'une grande chambre d'une hauteur pouvant atteindre 36 cm, permettant d'étudier des échantillons de différentes tailles. Il dispose également d'une unité d'imagerie numérique. Le logiciel de contrôle facile à utiliser dispose d'une interface conviviale et permet une grande flexibilité. XL-40 est conçu pour une utilisation quotidienne et fournit une performance fiable pour des expériences répétables. PHILIPS XL 40 est capable de diverses applications telles que l'imagerie, la cartographie, la caractérisation nanoélectrique, l'analyse EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrum) et l'analyse générale des échantillons. Le logiciel permet également d'acquérir des images bidimensionnelles et tridimensionnelles, permettant une analyse encore plus détaillée. La machine est également capable de générer des images à haute résolution de spécimens organiques. Il est équipé de la technologie FEG (Cold Field Emission Gun) qui fournit une luminosité allant jusqu'à 300 A/cm2, permettant un meilleur contraste et la profondeur des images de terrain. Dans l'ensemble, le microscope électronique à balayage FEI XL-40 est un outil idéal pour les chercheurs qui ont besoin d'images à haute résolution, d'un excellent contraste et d'une facilité d'utilisation. Ses capacités complètes en font un excellent atout pour tout laboratoire qui recherche un SEM polyvalent et fiable.