Occasion PHILIPS / FEI XL 40 #9276331 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 40 est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe qui utilise un faisceau d'électrons à balayage pour créer des images de la surface d'un matériau ou d'un échantillon. FEI XL 40 fonctionne dans un environnement sous vide, où les électrons sont accélérés pour produire une image sur un détecteur ou un matériau photosensible. Le faisceau d'électrons est balayé à travers la surface de l'échantillon et les électrons sont recueillis lorsqu'ils impactent l'échantillon. Ces électrons créent une image bidimensionnelle de la surface. PHILIPS XL-40 a une gamme de grossissements allant de 5x à 500.000x. La plage de grossissement est obtenue en utilisant des électrons à différentes tensions d'accélération de 1 kV à 30 kV. XL 40 est un SEM environnemental, ce qui signifie qu'il a un certain nombre de capacités pour créer des images haute résolution dans une variété de conditions environnementales. Il s'agissait notamment de la régulation de l'humidité et de la température variables, de la livraison de gaz et de la livraison d'échantillons liquides. PHILIPS XL 40 a également la capacité d'effectuer l'imagerie électronique secondaire et rétrodiffusée (ESB). L'imagerie ESB utilise les électrons qui sont dispersés de la surface du spécimen pour créer une image. Cette technique d'imagerie peut fournir un aperçu de la topographie, de la composition élémentaire et de l'épaisseur du matériau étudié. En plus des capacités SEM, FEI XL-40 comprend également un certain nombre de fonctionnalités avancées qui améliorent ses performances. Ces caractéristiques comprennent un système de caméra haute résolution, des caractéristiques analytiques comme l'EDS, l'EBSD et le WDS, la capacité de revêtement de carbone d'échantillons pour les échantillons non conducteurs, et une variété de détecteurs pour l'image de l'échantillon dans différents modes. XL-40 est un outil polyvalent et puissant pour les chercheurs dans le domaine de la science des matériaux et de la nanotechnologie. Sa combinaison de capacités d'imagerie, de caractéristiques analytiques et de contrôle environnemental fournira aux chercheurs un aperçu des propriétés de leurs matériaux et spécimens qui n'ont pas pu être atteints avec les techniques classiques de microscopie.