Occasion PHILIPS / FEI XL 40 #9399422 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 40 est un microscope électronique à balayage conçu pour l'imagerie haute résolution des matériaux au niveau du nanomètre et du sous-nm. Ce microscope électronique dispose d'un système de lentilles pour des faisceaux d'électrons hautement focalisés et énergétiques, ainsi que d'un canon à émission de champ froid et d'un contrôle automatique intégré de l'étage. Le microprocesseur intégré et le système d'imagerie numérique offrent à l'utilisateur des options d'imagerie très détaillées, y compris la mise au point automatique et un menu de navigation automatisé. Il dispose également d'un système intelligent de reconnaissance des objets pour l'évaluation rapide des échantillons. Cette combinaison de fonctionnalités fait de FEI XL 40 un excellent outil pour l'imagerie haute résolution dans la recherche et la production. Le détecteur d'électrons hautement sensible offre la possibilité d'images de matériaux dans différents modes, y compris un microscope électronique à balayage (SEM) et un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB). Le SEM fournit aux utilisateurs une vue haute résolution aux grossissements jusqu'à 50.000 fois, tandis que le détecteur ESB leur permet d'identifier les différentes caractéristiques d'un échantillon telles que les limites des grains et les sites de défauts. PHILIPS XL-40 est un outil polyvalent pour l'analyse des matériaux, avec une multitude d'applications possibles avec ses capacités d'imagerie. Il s'agit notamment de mesurer la topographie des échantillons, de mesurer la chimie et les propriétés cristallines, et d'imiter des échantillons biologiques tels que des cellules, des bactéries et des virus. En outre, XL-40 facilite l'amélioration spectaculaire de l'efficacité et de la précision, car le faisceau d'électrons peut être précisément focalisé sur l'échantillon d'intérêt, et le faisceau d'électrons est constamment surveillé pour assurer une performance optimale. En outre, l'automatisation des processus d'imagerie élimine une grande partie du travail manuel requis pour les études SEM traditionnelles. Dans l'ensemble, PHILIPS/FEI XL-40 est un excellent outil pour l'imagerie haute résolution des matériaux. Il offre une résolution d'image supérieure, des processus d'imagerie automatisés et des applications polyvalentes. Ces caractéristiques le rendent idéal pour la recherche et la production, et c'est un excellent choix pour ceux qui ont besoin d'une imagerie haute résolution à l'échelle du nanomètre.