Occasion PHILIPS / FEI XL 800 #293771604 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage PHILIPS/FEI XL 800 est un type de microscope électronique qui utilise un faisceau d'électrons focalisé pour créer des images de la surface d'un échantillon. Ce type de microscope a une haute résolution et permet aux chercheurs d'observer les détails plus fins de leurs échantillons. FEI XL 800 est un instrument polyvalent qui offre aux utilisateurs un large éventail de capacités analytiques, y compris l'analyse élémentaire, la spectroscopie des rayons X dispersive d'énergie (EDX) et la diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD). De plus, l'unité dispose d'une chambre à pression variable (VPE) qui peut être utilisée pour étudier des échantillons sous vide ou dans des conditions ambiantes. PHILIPS XL 800 dispose d'une tension d'accélération réglable de 0,2 kV à 30 kV et convient à une variété de matériaux. Le microscope est également équipé d'une caméra d'imagerie qui capture des images vidéo et fixes du spécimen. Lorsqu'il est utilisé avec le logiciel approprié, XL 800 peut être utilisé pour construire des images 3D avancées de l'échantillon. Ce microscope a été conçu pour répondre aux besoins des laboratoires avancés et est capable de produire des images à haute résolution, offrant aux chercheurs la capacité de faire des observations précises et détaillées. PHILIPS/FEI XL 800 est logé dans une armoire robuste, et il offre un système anti-vibrations qui aide à réduire la distorsion d'image causée par les vibrations externes. Le microscope est également équipé d'un système de focalisation automatique et d'une source lumineuse LED réglable afin de fournir un éclairage optimal pour l'échantillon. De plus, l'unité offre des porte-échantillons de différentes tailles et matériaux, permettant aux utilisateurs de travailler avec un large éventail d'échantillons. Le FEI XL 800 est un instrument efficace et fiable qui offre aux utilisateurs une large gamme de capacités d'analyse. Il est adapté à une variété d'applications et il permet aux chercheurs de faire des observations et des mesures de haute résolution de leurs échantillons.