Occasion PHILIPS / FEI XL 820 #9243141 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 820 Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil polyvalent et puissant qui est utilisé pour fournir l'imagerie haute résolution et l'analyse des échantillons. Les capacités impressionnantes de résolution, de contraste et de détail du SEM le rendent idéal pour un large éventail d'applications scientifiques, telles que les matériaux et les sciences de la vie, ainsi que l'analyse industrielle et électronique. La conception ouverte de la FEI XL 820 SEM permet une variété de tailles d'échantillons, de formes et d'épaisseurs pour être imagés jusqu'à 295mm de long et 150mm de haut dans la direction verticale. La résolution la plus élevée disponible est d'environ 3nm en direction latérale et en profondeur, ce qui permet de détecter et d'analyser même les caractéristiques les plus petites au niveau des nanomètres. De plus, PHILIPS XL 820 a la capacité unique d'incorporer un détecteur d'électrons secondaire « in-lens » qui fournit une imagerie de contraste élevé des matériaux isolants et résistifs - sans effet de charge. Le SEM est équipé d'une chambre d'environnement automatisée pour la technologie d'analyse in situ et de pression variable (VP) qui permet l'imagerie et l'analyse dans un environnement à basse dépression (par exemple dans l'air, les liquides ou les gaz). Il est également capable de détruire des échantillons de type écran, ce qui le rend particulièrement adapté à l'analyse de défaillance. Il dispose d'un système d'alignement automatisé qui lui permet de mesurer directement des profils sur de grandes plages de longueur avec une géométrie complexe. XL 820 SEM est complété par des logiciels avancés d'acquisition de données et de traitement d'images. Ce logiciel offre un moyen très efficace d'analyser les données et de produire des résultats. Il permet à l'utilisateur de produire des modèles d'images 3D, de mesurer les distances, de calibrer les caractéristiques et même d'effectuer une analyse spectrale. En résumé, PHILIPS/FEI XL 820 SEM est un outil puissant qui fournit d'excellentes capacités de résolution, de contraste et de détail. C'est la solution idéale pour un large éventail d'applications d'analyse microscopique, des matériaux et des sciences de la vie à l'industrie et à l'électronique. Les caractéristiques uniques et les logiciels avancés en font un atout inestimable pour l'environnement de la recherche et du développement.