Occasion PHILIPS / FEI XL 830 #293627422 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 830 Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument d'imagerie avancé utilisé pour l'analyse des caractéristiques de surface, de la composition et de la morphologie. Ce SEM sophistiqué offre une large gamme de fonctionnalités, idéales pour les applications physiques, chimiques et de la science des matériaux. FEI XL 830 est un SEM entièrement automatisé avec une source d'émission de champ et un processeur de signal numérique haute résolution. La combinaison de ces composants permet le plus haut niveau de performance et de polyvalence. Grâce aux capacités d'imagerie flexibles, les utilisateurs peuvent manipuler rapidement les paramètres d'oscillation, d'inclinaison, de portée et de syntonisation pour afficher des images à basse et haute résolution avec des détails précis. Le microscope est également capable d'imagerie en mode classique et STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy). PHILIPS XL 830 permet également une préparation et une analyse avancées des échantillons. Le processeur de signal numérique haute résolution permet aux utilisateurs de bien cibler la zone souhaitée à analyser, tandis que la chambre de préparation des échantillons permet une manipulation fine des échantillons pour permettre la meilleure analyse possible. Les techniques d'imagerie par faisceau d'électrons de haute intensité et par rétrodiffusion permettent d'analyser les propriétés compositionnelles et structurelles des échantillons à l'échelle atomique. Les capacités d'analyse de haute puissance du XL 830, jumelées à ses composants logiciels et systèmes faciles à utiliser, en font un excellent atout pour tout laboratoire de recherche. Sa flexibilité permet d'utiliser le faisceau d'électrons dans divers modes d'image, y compris l'imagerie secondaire et rétrodiffusée pour l'examen d'échantillons organiques et inorganiques. En outre, le système est équipé d'une variété de capacités analytiques, y compris la spectroscopie à rayons X dispersifs d'énergie (EDX), la microscopie électronique à transmission filtrée d'énergie (EFTEM) et la spectroscopie à rayons X dispersifs de longueur d'onde (WDS). Ces capacités d'analyse font de PHILIPS/FEI XL 830 un outil efficace pour effectuer des analyses élémentaires, spatiales ou compositionnelles d'échantillons à l'échelle du nanomètre. Dans l'ensemble, le FEI XL 830 est un microscope électronique à balayage polyvalent et puissant qui permet aux utilisateurs d'effectuer des analyses à une gamme de résolutions avec une extrême précision. Son processeur de signal numérique et ses commandes variables maximisent la facilité d'utilisation et la fiabilité, tandis que ses capacités analytiques de grande puissance fournissent un large éventail d'informations sur les échantillons au niveau atomique. Sa flexibilité et ses caractéristiques avancées en font un choix idéal pour une variété d'applications de recherche dans les domaines des sciences physiques, chimiques et des matériaux.