Occasion PHILIPS / FEI XL 855 Altura #122396 à vendre en France

ID: 122396
Taille de la plaquette: 6"-12"
Style Vintage: 1999
Dual ion beam system, 6"-12" Sidewinder ion column Beam current: 20 nA SFEG SEM: 3 nm Schottky FEG Resolution: 3 nm at low kV Chamber loadlock Multiple detector modes (2) Gas injectors EDAX EDS system Magnum Operating system: Windows XP 2 GIS EDX Stage, 8" Stage tilt: 52° EDWARDS QDP40 Dry pump TEM Sample extraction Immersion lens 1999 vintage.
PHILIPS/FEI XL 855 Altura est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie et l'analyse à haut débit, haute performance. Il offre des performances exceptionnelles pour les applications d'imagerie de plaquettes et d'échantillons. Grâce à son matériel et à ses logiciels avancés, les utilisateurs peuvent s'attendre à une résolution d'image supérieure, à une capture d'image rapide et à une analyse précise. Le FEI XL 855 Altura dispose d'une grande chambre de 160mm et de la capacité de tenir compte du mouvement de basculement et de rotation dans l'étage de l'échantillon pour améliorer la précision de l'imagerie et de l'analyse. Le microscope dispose d'un filtre d'énergie numérique retardateur de haute résolution capable d'imagerie ultra-rapide en mode d'imagerie de contraste de phase. De plus, PHILIPS XL 855 Altura dispose d'un système optique avancé qui comporte jusqu'à cinq axes de commande et une variété de modes optiques, y compris l'épi-illumination et le rétroéclairage semi-transparent. Les détecteurs du microscope offrent un contraste et une résolution supérieurs pour l'imagerie 3D, l'imagerie kV faible et la ptychographie. De plus, son mode d'imagerie SE à faible vide breveté permet de minimiser les dommages aux échantillons et les artefacts d'image. La conception intègre également des contrôleurs de focalisation adaptatifs visuels et prédictifs, un mouvement entièrement automatisé à travers plusieurs positions et un logiciel de technologie du système d'imagerie (TSI) pour contrôler la résolution d'image, le contraste et la luminosité. D'autres caractéristiques de XL 855 Altura comprennent une option de chargement d'échantillons CryoPrep pour les échantillons cryo, la couture automatisée d'images multiples, le mode d'éducation multi-canaux, colonnes d'électrons refroidis à l'air/à l'eau, paramètres d'imagerie illimités, deux optiques formant faisceau, et un mode d'auto-étalonnage. Avec ces fonctionnalités et plus encore, les utilisateurs peuvent s'attendre à une résolution et une précision d'imagerie supérieures. Dans l'ensemble, PHILIPS/FEI XL 855 Altura est un microscope électronique à balayage avancé qui offre de puissantes capacités d'imagerie, d'analyse et de contrôle. Grâce à son filtre d'énergie de champ de retardement numérique avancé, aux contrôleurs de focalisation adaptatifs visuels et prédictifs et aux logiciels IST, les utilisateurs peuvent s'attendre à une résolution supérieure, à une minimisation des artefacts et à une mécanique automatisée.
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