Occasion PHILIPS / FEI XL Sirion #293636315 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL Sirion Scanning Electron Microscope (SEM) est un équipement d'imagerie de pointe utilisé pour étudier une variété de caractéristiques et de matériaux microscopiques. Ce SEM est équipé d'un canon à émission de champ (FEG) en colonne, ce qui en fait un outil puissant pour examiner les particules à l'échelle nanométrique. La FEG produit des électrons à haute énergie qui peuvent pénétrer dans des échantillons minces, permettant des images à plus haute résolution. Sa technologie brevetée de source d'émission de champ Schottky (SFES) permet au système d'imagerie de produire des images ultra-contrastées et à haute résolution. La conception du canon à colonne et le blindage de radioprotection permettent un processus d'installation plus simple et minimise les risques de dommages mécaniques. Le SEM offre également des capacités d'imagerie impressionnantes. Avec une résolution allant jusqu'à 1,4 nanomètres, l'unité est bien adaptée pour étudier des structures très détaillées, telles que des particules nanométriques, des couches minces et d'autres matériaux délicats. L'interface tactile intuitive permet une personnalisation rapide et facile du contraste, de la luminosité et des niveaux de résolution. Cette machine d'imagerie peut également acquérir plusieurs images, permettant la génération de reconstructions 3D et de cartographie haute résolution. La fonction d'alignement automatique de FEI XL Sirion rend l'exécution des expériences rapide et facile. Le processus d'alignement réduit le temps nécessaire à l'orientation de l'échantillon et accélère ainsi les opérations et facilite les expériences en cours. De plus, PHILIPS XL Sirion offre une fonction automatisée d'analyse chimique de surface qui permet de caractériser des matériaux sans préparation d'échantillon poussée. Enfin, XL Sirion SEM est également capable d'une variété de modes d'imagerie, y compris les modes Low Vacuum, Variable Pressure, ESEM et In-Situ. Avec ces différents modes d'imagerie, les utilisateurs peuvent explorer les matériaux et les particules avec une facilité améliorée, leur permettant d'acquérir des informations détaillées sur leurs échantillons avec une plus grande précision.