Occasion RAITH / PREMTEK eLine #9382216 à vendre en France

RAITH/PREMTEK eLine est un microscope électronique à balayage (SEM), largement utilisé pour la recherche, le développement et les applications industrielles. Il est conçu pour fournir une imagerie nette et une haute résolution de surface pour une variété de matériaux d'échantillons, y compris les métaux, les semi-conducteurs et les matériaux d'isolation. Le SEM est composé de quatre composants principaux : une colonne d'ions, une source d'électrons, un canon à blanc et un étage. La colonne d'ions est utilisée pour focaliser et détecter le faisceau d'électrons. Il est fabriqué à partir d'un revêtement électrostatique Nikasil très stable, ce qui contribue à réduire la perte de chaleur et à maintenir un courant de faisceau constant. La source d'électrons produit un faisceau d'électrons qui est guidé par des bobines électromagnétiques et des aimants à l'intérieur de la source. Le fusil d'obturation est utilisé pour réduire le niveau d'intensité du faisceau d'électrons, et l'étage est utilisé pour la manipulation d'échantillons. RAITH eLine est un équipement de pointe qui offre une grande précision dans l'imagerie et l'analyse. Il est livré avec des capacités d'imagerie et d'analyse avancées telles que l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB), le balayage rapide SE (FSSE), la SE basse tension (LVSE), et la microscopie électronique secondaire (SEM). L'ESB est utilisée pour caractériser les caractéristiques topographiques de l'échantillon, tandis que la FSSE est utilisée pour capturer l'imagerie ultra-rapide des processus dynamiques. LVSE est utilisé pour générer des images à haute résolution des interactions du faisceau d'électrons avec l'échantillon, tandis que SEM peut générer des images à haute résolution à l'aide d'un faisceau d'électrons. PREMTEK eLine dispose également d'une variété de fonctionnalités intégrées, telles que des étapes de basculement pour la manipulation d'échantillons, l'imagerie micro-locale, l'alimentation automatisée d'échantillons, un système de vide et une unité de reconnaissance automatisée des motifs. La machine de reconnaissance de motifs permet la reconnaissance automatisée des défauts et des caractéristiques sur la surface de l'échantillon. Il est capable de parvenir à des résolutions jusqu'à 1nm. Sa large gamme de grossissements, de 5x à 500.000x, permet d'examiner des caractéristiques extrêmement petites. De plus, son débit élevé permet une collecte et une analyse rapides des images. ELine est un choix idéal pour les chercheurs et les professionnels qui ont besoin d'un outil SEM fiable et précis. Avec ses capacités d'imagerie et d'analyse avancées, ses fonctionnalités intégrées, son grossissement et sa résolution élevés, RAITH/PREMTEK eLine est le choix idéal pour un large éventail d'applications.