Occasion RAITH / PREMTEK ionLiNE #9402127 à vendre en France
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ID: 9402127
Ion-Beam lithography system
Resolution: 50nm
Dedicated nano FIB column
FE-SEM Column
Liquid metal alloy source for multi-species ion beam technology
Laser interferometer stage
Automated wafer scale e-beam writing
Exposure: 30 kV
Imaging
Thermal shield
Unique split room.
RAITH/PREMTEK ionLiNE est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour divers types d'imagerie, allant de l'ultra-basse tension jusqu'à plusieurs centaines de volts. Il dispose d'un étage 5 axes, offrant une grande précision et une grande surface de travail pour les pièces longues, et d'un système de positionnement de haute précision qui permet une résolution d'imagerie jusqu'à l'échelle du nanomètre. RAITH ionLiNE est capable d'analyse à basse et haute tension, permettant l'analyse de tout type de matériau quelle que soit sa taille. L'instrument est équipé d'une optique haute performance, qui permet l'imagerie de détails de surface avec un champ de vision expansif. PREMTEK ionLiNE a une tension d'accélération de faisceau de tailles variables, avec une transmission élevée et un excellent flux de faisceau pour de plus grandes zones d'échantillonnage et une grande variété de tailles d'échantillons. Il dispose également d'une protection réglable de la pression et de la température, permettant un fonctionnement sûr et fiable à vide élevé. Pour l'imagerie, ionLiNE dispose d'un grand champ de vision, de trois mois de balayage ininterrompu, d'imagerie ultra haute résolution et d'un excellent contraste matériel. Il est équipé d'un microscope automatisé d'analyse de surface exposée, qui peut être utilisé pour surveiller les profils de surface, détecter les défauts de surface et obtenir rapidement la topographie 3D. RAITH/PREMTEK ionLiNE a également intégré des systèmes STEM, EBSD et EDS pour l'analyse chimique, élémentaire et cristallographique. Le logiciel convivial et intuitif inclus avec RAITH ionLiNE permet un fonctionnement sans script compliqué. Le logiciel comprend également des outils d'acquisition de données, d'analyse d'images, de traitement d'images et d'analyse statistique avancée. De plus, PREMTEK ionLiNE comprend trois techniques d'imagerie avancées pour étendre les capacités d'imagerie : reconstruction de sections série avancées, stigmatisation des inclinaisons et correction de la dérive. En conclusion, ionLiNE est un microscope électronique à balayage avancé avec une large gamme de caractéristiques qui le rendent adapté à presque toutes les applications. Il dispose d'une excellente capacité d'imagerie, capable de produire des images à l'échelle du nanomètre, et des outils avancés tels que la reconstruction de la section série avancée, la stigmatisation des inclinaisons et la correction de la dérive permettent des capacités d'imagerie étendues. Le logiciel intuitif inclus permet un fonctionnement sans programmation compliquée, ce qui le rend idéal pour les utilisateurs ayant une expérience limitée en microscopie électronique.
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