Occasion SCIXR GLOBAL Scanning Electron Microscope (SEM) #293665623 à vendre en France
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Vendu
ID: 293665623
Style Vintage: 2017
Tungsten filaments
Detectors: SEI and BEI
Chamber 5-axis stage: 40 x 40 x 40 mm Travel
Vacuum system: Rotary and turbo pump
1 to 30 Kev
Operating system: Windows 7
Workstation with dual monitors
Evex SSD EDS detector
EDS Included
2017 vintage.
SCIXR GLOBAL Scanning Electron Microscope (SEM) est un microscope électronique à balayage haute performance conçu pour des applications industrielles et de recherche. L'instrument possède des capacités d'imagerie haute résolution supérieures, une caractérisation de surface exceptionnelle et une analyse précise des échantillons. Avec sa technologie de pointe, le SEM offre une combinaison unique de fonctionnalités puissantes, y compris l'imagerie multi-faisceaux, l'imagerie vidéo, l'imagerie par échantillons à basse température, et une interface utilisateur personnalisée. SCIXR GLOBAL SEM est équipé d'un canon à électrons à quatre canaux et d'un système de balayage multi-axes pour produire des images haute résolution. Ce SEM utilise un système de filtrage avancé de l'énergie et un affichage micro colonne pour la capture d'image précise. Avec un angle de convergence de 8,5 ° et une distance de travail réglable, SCIXR GLOBAL SEM fournit une grande profondeur de champ et une imagerie haute résolution. Le SEM est également équipé d'un étage automatisé pour faciliter le chargement et le positionnement des échantillons. SCIXR GLOBAL SEM est capable de capturer des images avec des contrastes ~ 0,6 nm à 40 000 x grossissement. En outre, le SEM dispose de fonctionnalités automatisées pour une analyse précise des échantillons. Les outils intégrés d'analyse chimique et physique fournissent aux utilisateurs des mesures qualitatives et quantitatives des caractéristiques d'un échantillon. Cela comprend la capacité de déterminer la composition élémentaire, les propriétés mécaniques et la taille des particules. SCIXR GLOBAL SEM est hautement configurable, permettant aux utilisateurs d'adapter l'instrument à leurs besoins spécifiques. Cela comprend des têtes de détecteurs interchangeables, un large champ de vision et une interface utilisateur personnalisée. La conception d'architecture ouverte de l'instrument permet également aux utilisateurs d'intégrer d'autres instruments, tels qu'un microscope optique pour visualiser un ensemble d'images en plusieurs axes ou une étape d'échantillonnage pour la préparation d'échantillons. SCIXR GLOBAL SEM produit des images de contraste élevé et de haute résolution qui permettent aux utilisateurs d'explorer et d'analyser avec précision de petits échantillons à l'échelle nanométrique. Avec ses capacités d'imagerie avancées et ses outils d'analyse puissants, l'instrument peut être utilisé pour étudier les propriétés physiques et chimiques de divers matériaux. Grâce à sa polyvalence et à son design robuste, SCIXR GLOBAL SEM est idéal pour les applications industrielles et de recherche.
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