Occasion SEIKO SEIKI SMI3050SE #9202859 à vendre en France
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ID: 9202859
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 2006
FIB Scanning Electron Microscope (SEM), 8"
Upto 2" sample sizes
Ga+ focused ion beam column for nanoscale fabrication
Field emission SEM for observation during FIB processing
Image resolution: 4 nm
Maximum current density: 30 A/cm² or greater
2006 vintage.
SEIKO SEIKI SMI3050SE microscope électronique à balayage est un outil d'imagerie haute performance qui peut être utilisé pour une variété d'applications, y compris la science des matériaux, la métallographie, l'analyse des pannes, et plus encore. L'unité est équipée d'un pistolet à émission de champ sextuple 30kV et d'une commande de double canon qui peut fournir des images claires et très détaillées sans aucune distorsion. SEIKO SEIKI SMI 3050 SE offre également un détecteur d'électrons rétrodiffusés qui permet des capacités d'imagerie 3D avancées incluant l'analyse directionnelle, l'amélioration du contraste, l'imagerie en profondeur de champ, et plus encore. En termes de résolution, SMI3050SE fournit une résolution impressionnante allant jusqu'à 15nm, et l'unité est également équipée d'un axe Z automatisé qui assure un réglage et une mesure précis. En outre, SMI 3050 SE est capable d'être utilisé dans un environnement UHV grâce à une gamme complète standard de lumières obliques et un étage de paroi latérale réglable. Le microscope offre également un large éventail de technologies d'imagerie avancées telles que le traitement d'images numériques et la mesure assistée par ordinateur, ainsi qu'une interface utilisateur intuitive et un progiciel. SEIKO SEIKI SMI3050SE est facilement adaptable et peut être personnalisé pour répondre aux besoins de l'utilisateur. La conception polyvalente de l'unité peut accueillir un large éventail de porte-échantillons et d'accessoires d'analyse qui permettent à l'utilisateur d'effectuer des expériences dans divers domaines, y compris médical, matériel, biologique et semi-conducteur. Avec ses capacités avancées, SEIKO SEIKI SMI 3050 SE est un outil puissant et fiable pour de nombreux projets de recherche scientifique. SMI3050SE est un puissant microscope électronique à balayage polyvalent qui fournit des résultats d'imagerie exceptionnels. Les fonctionnalités avancées et la résolution rendent l'unité parfaite pour une variété d'applications scientifiques, et sa conception prête UHV permet d'obtenir des résultats fiables et cohérents. Avec ses capacités de contrôle de canon double, d'imagerie 3D, de traitement d'image numérique et de mesure assistée par ordinateur, SMI 3050 SE est un excellent choix pour les projets de recherche dans les domaines médical, des matériaux, biologique et des semi-conducteurs.
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