Occasion SEIKO SMI 3200 #9095358 à vendre en France

SEIKO SMI 3200
ID: 9095358
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB SEM).
SEIKO SMI 3200 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour fournir une imagerie de haute qualité pour une variété d'applications. Ce modèle, produit par SMI, est capable de fournir une large gamme de résolutions, de 3 nm à 100 mm. Il dispose également d'une profondeur de champ d'imagerie pouvant aller de 1 nm à 1 000 μ m. SMI 3200 dispose d'un système de traitement numérique du signal ainsi que de fonctions d'optimisation automatisées. L'inclusion d'algorithmes avancés de traçage des rayons fournit aux utilisateurs une image exceptionnellement nette qui a de faibles niveaux de bruit. SEIKO SMI 3200 est capable de fonctionner dans diverses conditions environnementales, y compris des températures allant de -25 ° C à + 40 ° C Il dispose également d'un système de lentilles électrostatiques, qui est logé dans une chambre à vide et dispose d'une zone de balayage flexible. Les détecteurs de faisceaux électromagnétiques SMI 3200 offrent une large gamme de sensibilité, allant de 0.1e à 10e photons par seconde. Cela permet de s'assurer que la qualité de l'image n'est pas compromise, même lors de l'analyse d'échantillons à faible coefficient d'absorption. SEIKO SMI 3200 propose également une gamme de processus automatisés pour contrôler le microscope. Cela inclut les fonctions d'optimisation automatisées, telles que la mise au point automatisée, le courant de faisceau automatisé, la taille de spot automatisé et le positionnement automatisé. Enfin, SMI 3200 a une variété d'options matérielles et logicielles. Il est livré avec un large éventail d'outils d'imagerie tels que des systèmes d'imagerie, des détecteurs, et une base SEM, tous compatibles avec une variété de SEM. Ces outils aident à fournir à l'utilisateur l'expérience d'imagerie la plus optimale. En plus de son matériel, SEIKO SMI 3200 fournit également une vaste gamme d'outils logiciels pour la manipulation et l'analyse de données. Cela inclut des outils tels que la reconnaissance des motifs et la segmentation des données, la mesure automatisée du contraste, le rendu 3D et le traitement du langage. Dans l'ensemble, SMI 3200 est un excellent choix pour un SEM, offrant aux utilisateurs une large gamme de fonctions d'imagerie et de contrôle. De sa vaste gamme de résolutions à ses algorithmes avancés de traçage des rayons et à ses outils logiciels robustes, SEIKO SMI 3200 est un outil supérieur pour la recherche scientifique et les applications industrielles.
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