Occasion SEIKO SMI 3200 #9116789 à vendre en France

SEIKO SMI 3200 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie numérique haute résolution sur une large gamme d'échantillons. Il est capable d'agrandir l'échantillon jusqu'à 500,000X, et est équipé d'une lentille optique électronique haute performance qui fournit une résolution et un contraste optimaux. Il dispose d'une source d'émission de champ, lui donnant un niveau de luminosité élevé et constant. De plus, son détecteur actif d'électrons rétrodiffusés (ESB) permet une imagerie détaillée avec des cartes élémentaires correspondantes. Son étage d'échantillonnage rapide comprend un hybride conçu pour le balayage et le mouvement de basculement. Cela permet un balayage automatisé et précis des zones jusqu'à 4 000 mm2 et une imagerie directe de la surface de l'échantillon. L'opération basse dépression (LVA-SEM) offre un environnement idéal pour l'imagerie d'échantillons non conducteurs. Il est également équipé d'un équipement à pression variable avec un temps de pompage court et une imagerie haute résolution. Le SMI 3200 est équipé d'un détecteur à rayons X (EDS/WD) avec un système d'alignement et de raffinage 3D de haute précision qui fournit une observation et une analyse quantitative à haute résolution des zones échantillonnées. De plus, le microscope est également compatible avec SEIKO RedFilm pour l'analyse d'orientation cristalline. De plus, son unité d'exploitation intégrée est facile à utiliser avec des interfaces graphiques intuitives. Le microscope est également capable de capturer des images SEM haute résolution et fournit la conversion des données en formats couramment utilisés pour une analyse plus approfondie. De plus, sa machine de transfert de données à grande vitesse facilite l'analyse en transmettant rapidement des images et des données quantitatives de l'instrument à un ordinateur hôte. Dans l'ensemble, SEIKO SMI 3200 est un choix idéal pour ceux qui recherchent un SEM haute performance. Il est doté d'une lentille optique à haute résolution et d'un détecteur d'ESB, offrant une précision inégalée en imagerie et en cartographie élémentaire. De plus, son fonctionnement sous vide, son étage d'échantillonnage hybride, son détecteur EDS et son outil de fonctionnement intuitif font de ce SEM un excellent choix pour l'imagerie et l'analyse numériques.