Occasion SEIKO SMI-8300 #9076932 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage SEIKO SMI-8300 (SEM) est un instrument de pointe qui utilise un équipement de détection d'imagerie numérique pour visualiser des échantillons dans diverses applications. Il a une empreinte compacte, mais offre toujours des fonctionnalités avancées pour une variété de techniques d'analyse d'échantillons. SEIKO SMI 8300 utilise à la fois un canon à électrons à haut courant et une tension d'accélération réglable pouvant atteindre 30 kV, ce qui permet d'observer et d'analyser une large gamme d'échantillons. Le SEM intègre un système unique de détection d'imagerie numérique, qui permet l'imagerie de structures avec une résolution intrinsèque de 0,2 micron ou mieux. Le SEM dispose d'une large gamme de fonctions automatisées pour un fonctionnement facile et une interface conviviale. SMI-8300 offre un large éventail de capacités d'imagerie et d'analyse, y compris l'analyse des particules, la cartographie des éléments, l'analyse des grains, l'analyse de la taille et de la forme des particules et l'analyse des limites des grains. L'unité automatisée permet des changements rapides et faciles entre les modes secondaires et rétrodiffusés d'imagerie électronique. Les fonctions automatisées permettent à l'utilisateur de changer rapidement la distance de travail, le courant du faisceau et la tension d'accélération pour une détection optimale. SMI 8300 inclut aussi un contrôle de stade automatisé avec une 0,5 résolution μm, qui est idéale pour l'alignement et le positionnement de promotion. Le SEM est capable de fonctionner dans les directions horizontale et descendante/ascendante. Il est également équipé d'une machine automatisée de détection de rayons X pour une analyse élémentaire rapide et précise. Le détecteur offre également une gamme de capacités de résolution de 0,05 à 0,5 μ m. SEIKO SMI-8300 combine d'excellentes capacités d'imagerie et d'analyse avec un fonctionnement simple et une interface conviviale. Ses caractéristiques impressionnantes et ses fonctions automatisées en font un choix idéal pour une variété d'applications d'analyse d'échantillons. Avec son outil de détection d'imagerie numérique haute résolution, le SEM répond aux besoins d'imagerie et d'analyse d'un large éventail de secteurs industriels, y compris l'électronique et les sciences des matériaux.