Occasion SELA / CAMTEK TEMpro #9314703 à vendre en France

SELA / CAMTEK TEMpro
ID: 9314703
Taille de la plaquette: 8"
Transmission Electron Microscope (TEM), 8".
SELA/CAMTEK TEMpro est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre une suite de fonctionnalités avancées pour l'imagerie par faisceau ionique focalisé (FIB) haute sensibilité et haute résolution. L'instrument est idéal pour la science des matériaux, l'ingénierie des matériaux et les applications nanotechnologiques. La plus grande résolution, la plus grande sensibilité et les capacités d'automatisation rendent l'instrument bien adapté à l'imagerie 2D et 3D. Ce SEM met l'accent sur l'interaction du faisceau d'électrons avec les matériaux. Sa grande chambre d'échantillonnage, avec régulation de température, permet une large gamme de configurations d'échantillons. L'instrument est équipé d'une puissante colonne miroir hyperbolique STEM pour fournir une imagerie de haute qualité et une sensibilité électrique accrue. Le SEM utilise également un détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSED) et un détecteur de cathodoluminescence (CL) très efficaces pour visualiser les composantes lumière et obscure d'un échantillon. SELA TEMpro dispose d'une unité de décharge HF automatisée permettant une préparation et une imagerie faciles des isolateurs pour des artefacts de charge réduite. Le logiciel avancé de Data Station comprend la reconnaissance automatisée des motifs, l'analyse statistique et la collecte automatisée d'images. Le logiciel permet également la reconstruction 3D de modèles 3D, ainsi que la reconnaissance de motifs d'image et le tracé de données. La technologie de pointe intégrée dans CAMTEK TEMpro offre une capacité d'imagerie haute résolution. Le pouvoir de résolution élevé, ainsi que la haute résolution et l'imagerie de contraste élevé, sont le résultat de l'utilisation à la fois d'une ouverture dynamique et d'une taille de tache variable. Avec une distance de travail variable, l'instrument peut optimiser la résolution d'imagerie en fonction du niveau de détail nécessaire pour une application particulière. L'instrument dispose d'une étape FIB automatisée qui permet de cibler avec précision les caractéristiques de l'échantillon. Combinés aux capacités intégrées de manipulation des échantillons, les utilisateurs peuvent rapidement visualiser un large éventail de matériaux métalliques et organiques. Les capacités intégrées de positionnement et d'imagerie adaptative permettent une optimisation des paramètres d'imagerie centrée sur la cible. Pour maximiser le débit, TEMpro est équipé d'une unité de polissage entièrement intégrée. Cette fonctionnalité permet aux utilisateurs de polir automatiquement les échantillons au fur et à mesure de leur traitement. L'unité de polissage automatisée permet le polissage d'une grande variété de matériaux. Les capacités telles que la direction de polissage et le contrôle de vitesse fournissent des résultats d'imagerie améliorés. SELA/CAMTEK TEMpro offre un accès facile à une gamme de fonctionnalités et d'outils avancés de robotique et d'automatisation, donnant aux utilisateurs un contrôle encore plus grand sur leurs résultats d'imagerie. Grâce à ce puissant système d'imagerie et d'automatisation, les utilisateurs peuvent facilement capturer et analyser les caractéristiques à l'échelle submicronique avec une résolution spatiale très fine. La combinaison de capacités techniques de haut niveau confère à SELA TEMpro des performances supérieures à un prix compétitif.
Il n'y a pas encore de critiques